1.一种基于微带负群时延电路介质测试装置的介质测试方法，其特征在于：介质测试装置利用电路的负群时延特性，对工作于各频段的待测介质板(4)的谐振频率偏移量以及群时延值进行测量，获得该待测介质板(4)的介电常数与损耗角正切，其特征在于，所述介质测试装置包括介质基板(1)和环形谐振器(3)，环形谐振器(3)的任意一侧布设有微带传输线(2)，微带传输线(2)的两端分别连接输入端口(21)、输出端口(22)，输入端口(21)、输出端口(22)分别构成介质测试装置的输入端、输出端；

介质测试方法包括以下步骤：

步骤A、获得用于构成标准电路的介质基板(1)的介电常数、损耗角正切值、以及环形谐振器(3)的谐振频率，基于环形谐振器(3)与微带传输线(2)的耦合形成标准电路，随后进入步骤B；

步骤B、将待测介质板(4)覆盖于标准电路上，获得待测电路，进一步得到待测电路的谐振频率和群时延值，获得待测电路和标准电路之间的谐振频率偏移量、待测电路的群时延值，基于谐振频率偏移量、群时延值、以及待测介质板(4)自身的介电常数，获得选择拟合指数函数，随后进入步骤C；

步骤C、针对待测介质板(4)，根据所选择拟合指数函数、待测电路的谐振频率偏移量、待测电路的群时延值，分别计算并获得待测介质板(4)的介电常数和损耗角正切。

2.根据权利要求1所述一种基于微带负群时延电路介质测试装置的介质测试方法，其特征在于，所述步骤A中，基于环形谐振器(3)与微带传输线(2)耦合形成的标准电路，以及介质基板(1)的介电常数和损耗角正切，根据以下公式：计算获得标准电路的物理尺寸r，其中，f0为环形谐振器(3)自身的谐振频率，n为谐波数，c为光速，εeff为制作标准电路介质基板的有效介电常数；

基于标准电路的物理尺寸，标准电路等效为RLC电路，相应的，环形谐振器(3)等效为由等效电感C、等效电感L和等效电阻R构成的并联电路，根据以下公式：获得标准电路的群时延值τ(ω)，其中，Q为环形谐振器(3)的品质因数，ω0为环形谐振器(3)本身的谐振角频率，R为等效电阻，N为标准电路中微带传输线(2)耦合与变压器的圈数比，Z0为微带传输线(2)两端的负载。

3.根据权利要求1所述一种基于微带负群时延电路介质测试装置的介质测试方法，其特征在于，所述步骤B中，当待测介质板(4)覆盖于标准电路上时，获得待测电路，待测电路的谐振频率发生偏移，根据以下公式：Δf＝f0‑f1

获得谐振频率偏移量Δf，其中，f0为环形谐振器(3)自身的谐振频率，f1为覆盖待测介质板后的谐振频率；

相应的，待测电路的群时延值在待测介质板(4)自身损耗角正切的影响下，基于标准电路的群时延值发生变化。

4.根据权利要求2所述一种基于微带负群时延电路介质测试装置的介质测试方法，其特征在于，所述步骤B中，基于谐振频率偏移量、群时延值、以及待测介质板(4)自身的介电常数和损耗角正切，获得选择拟合指数函数，根据以下公式：获得选择拟合指数函数，其中，A为待定常数，e为自然对数的底数，t为待定常数，x为自变量，y0为待定常数。

5.根据权利要求3所述一种基于微带负群时延电路介质测试装置的介质测试方法，其特征在于，针对待测介质板(4)，所述步骤C中，通过待测介质板(4)与标准电路进行耦合获得待测电路，基于所获的选择拟合指数函数，根据以下公式：获得待测介质板(4)的介电常数εr、以及损耗角正切tanδ，其中，A1、t1、y1分别为待测介质板(4)的介电常数对应的待定常数，A2、t2、y2分别为待测介质板(4)的损耗角正切对应的待定常数，Δf是谐振频率偏移量，τ是待测电路对应的群时延值。

6.根据权利要求1所述一种基于微带负群时延电路介质测试装置的介质测试方法，其特征在于，所述环形谐振器(3)与微带传输线(2)耦合形成标准电路。