1.一种集成电路检测用老化考核装置，包括耐温老化箱主体(1)，其特征在于：所述耐温老化箱主体(1)的前端设置有密封门组件(2)，所述密封门组件(2)的一侧设置有控制面板主体(3)，所述密封门组件(2)的前方设置有摄像头(14)，所述耐温老化箱主体(1)的内部设置有电动滑轨机构(18)，所述电动滑轨机构(18)的上端设置有检测板(17)，所述耐温老化箱主体(1)的上表面设置有热量回收管(8)，且热量回收管(8)与耐温老化箱主体(1)焊接连接，所述耐温老化箱主体(1)的后端设置有滑轨控制箱(20)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置，其特征在于：所述检测板(17)的前端设置有温度传感器(19)，所述控制面板主体(3)的前表面设置有显示屏组件(10)，所述显示屏组件(10)的下方设置有按钮组件(11)，所述显示屏组件(10)的上方设置有运行提示灯组件(5)，所述温度传感器(19)的输出端与显示屏组件(10)的输入端电性连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置，其特征在于：所述热量回收管(8)的上端设置有连接法兰(9)，且连接法兰(9)与热量回收管(8)焊接连接，所述密封门组件(2)的前端设置有门把手(4)，且门把手(4)与密封门组件(2)焊接连接。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置，其特征在于：所述密封门组件(2)的前表面设置有透明观察窗(13)，所述摄像头(14)的外部设置有固定架(12)，所述摄像头(14)的一端设置有固定片(15)，所述固定片(15)和固定架(12)的一端均设置有螺栓(16)，且固定片(15)通过螺栓(16)与固定架(12)螺纹连接。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置，其特征在于：所述滑轨控制箱(20)的一侧设置有简易门(21)，所述简易门(21)的一侧设置有门锁机构(22)，所述简易门(21)的另一侧设置有合页铰链(23)，且简易门(21)通过合页铰链(23)与滑轨控制箱(20)转动连接。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置，其特征在于：所述耐温老化箱主体(1)的侧表面设置有散热百叶(7)，且散热百叶(7)与耐温老化箱主体(1)为一体结构，所述散热百叶(7)设置有八个，所述耐温老化箱主体(1)的下端设置有支撑腿(6)，且支撑腿(6)设置有四个。