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专利号: 2021219837282
申请人: 济南鲁晶半导体有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2025-12-01
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种轴向散装二极管测试检验装置,包括主体框架(1)和下料测试系统(5),其特征在于:

所述主体框架(1)放置在地面上,主体框架(1)的上方架设有传送链条(2),传送链条(2)的一侧的主体框架(1)上安装有下料测试系统(5);

所述下料测试系统(5)包括逆时针转动的八槽齿轮(6),八槽齿轮(6)的左侧设有八槽齿轮挡片(7),散装轴向二极管经过八槽齿轮(6)与八槽齿轮挡片(7)之间时被设置在八槽齿轮挡片(7)上的测试片(9)检测,八槽齿轮(6)的下方设有连接控制系统的拨爪电机(8),控制系统还连接测试片(9)。

2.根据权利要求1所述的轴向散装二极管测试检验装置,其特征在于:所述主体框架(1)的一侧安装有不良品导料轨(3),不良品导料轨(3)向下伸入到不良品收集箱(301)中,主体框架(1)的另一侧安装有邻接传送链条(2)的良品导料轨(4),良品导料轨(4)向下伸入到良品收集箱(401)中。

3.根据权利要求1所述的轴向散装二极管测试检验装置,其特征在于:所述传送链条(2)通过安装在主体框架(1)上的驱动电机(201)驱动运转。

4.根据权利要求1所述的轴向散装二极管测试检验装置,其特征在于:所述主体框架(1)上安装有传动系统调节仪表和测试仪表。

5.根据权利要求1所述的轴向散装二极管测试检验装置,其特征在于:所述下料测试系统(5)包括固定在主体框架(1)一侧上方的齿轮支架(601),齿轮支架(601)上转动连接有八槽齿轮(6),八槽齿轮(6)通过设置在齿轮支架(601)上的八槽齿轮马达(602)驱动转动;

所述八槽齿轮(6)的正上方设有下料导轨(13),下料导轨(13)的上方设置下料斗(14);

所述八槽齿轮(6)的左侧设置有间距可调的八槽齿轮挡片(7),八槽齿轮挡片(7)的下端设置有拨爪电机(8),八槽齿轮挡片(7)的中部设有测试片(9),测试片(9)连接测试座(11),测试片(9)通过测试片连接线(10)连接测试座连接线(12)。

6.根据权利要求5所述的轴向散装二极管测试检验装置,其特征在于:所述拨爪电机(8)包括步进电机(801),步进电机(801)的电机轴端连接有拨爪(802)。