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专利号: 2021113762304
申请人: 江苏科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-03-02
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的装置,包括依次设置的激光输入端(1)、准直扩束系统、分辨率板(4)和CCD(5),其特征在于,所述的激光输入端(1)、准直扩束系统、分辨率板(4)和CCD(5)位于同一光轴上,采用激光照射分辨率板(4),产生包含物体信息的物光,并由CCD(5)记录采集到的光强分布并产生全息图。

2.根据权利要求1所述的一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的装置,其特征在于,所述的准直扩束系统包括依次设置的第一透镜(2)和第二透镜(3)。

3.根据权利要求1所述的一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的装置,其特征在于,所述的分辨率板(4)到CCD(5)的距离固定时,不同波长的激光照射分辨率板(4)后在CCD(5)上得到的全息图不同。

4.根据权利要求1所述的一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的装置,其特征在于,所述的激光输入端(1)能够更换不同的光源。

5.基于权利要求1~4任一项所述的一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)使用已知波长的激光作为光源,用CCD采集全息图a,利用自聚焦算法并代入已知波长求得实际距离d1;

(2)保持实际距离d1不变,采用未知波长λ1的激光器作为光源,通过CCD采集全息图b;

(3)利用全息图b,选取某一波长λ2计算得到对应该波长的距离d2;

(4)根据公式λ1d1=λ2d2,计算未知波长为:λ1=λ2d2/d1。

6.根据权利要求5所述的一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的方法,其特征在于,所述步骤(1)和(3)的距离为再现距离或记录距离。

7.根据权利要求5所述的一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的方法,其特征在于,所述步骤(1)的实际距离即分辨率板到CCD的距离。

8.根据权利要求5或7所述的一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的方法,其特征在于,所述的实际距离范围为10mm≤d1≤100mm。

9.根据权利要求5所述的一种基于同轴全息自聚焦技术测量激光波长的方法,其特征在于,所述未知波长的测量范围取决于CCD的感光范围。