1.一种集成电路芯片生产加工处理系统，其特征在于，包括人员采集模块、人员验证模块、人员数据库、环境信息采集模块、产品信息采集模块、数据导入模块、设备信息采集模块、数据接收模块、数据处理模块、产品评估模块、安全评估模块、总控模块与信息发送模块；

所述人员采集模块用于采集进入到芯片生产加工厂房内的实时人员身份信息，所述人员数据库中预存了允许进入厂房人员的预存身份信息，所述人员验证模块接收人员身份信息，并从人员数据库中提取出预存身份信息进行比对处理生成人员比对信息；

所述环境信息采集模块用于采集芯片生产加工厂房内的实时温度信息、湿度信息与空气信息；

所述产品信息采集模块用于采集产品产量信息，产品影像信息与产品重量信息；

所述数据导入模块用于用户导入预设时长内的预估产量信息与产品质量信息；

所述设备信息采集模块用于采集生产设备的运行时长信息与检修信息；

所述数据接收模块用于接收人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息，并将人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息发送到数据处理模块；

所述数据处理模块对人员比对信息、实时温度信息、湿度信息、空气信息、产品影像信息、产品重量信息、预估产量信息、产品质量信息、生产设备的运行时长信息与检修信息进行处理生成人员评估信息、厂房环境信息、产品比对信息与设备运行信息；

所述人员评估信息包括成功占比与失败占比，所述厂房环境信息包括环境异常信息与环境正常信息，所述产品比对信息包括重叠度、产品重量差、单位产量、预估单位产量，所述设备运行信息包括检修比；

所述人员评估信息、厂房环境信息与设备运行信息被发送到安全评估模块进行生产安全评估，生成生产安全评分信息；

所述产品比对信息被发送到产品评估模块进行产品质量评估生成产品质量评估分与产量异常信息；

所述生产安全评分信息、产品质量评估分与产量异常信息生成后总控模块控制信息发送模块将生产安全评分信息、产品质量评估分与产量异常信息发送到预设接收终端；

所述数据处理模块处理出人员评估信息的具体处理过程如下：

S1：提取出采集到的人员比对信息，从中提取出验证成功次数、验证失败次数和总验证次数，将验证成功次数标记为Ka，将验证失败次数标记为Kb，将总验证次数标记为Kk；

S2：计算出验证成功次数Ka与总验证次数Kk之间的比值得到成功占比Kka，再计算出验证失败次数Kb与总验证次数Kk之间的比值得到失败占比Kkb；

S3：再计算出成功占比Kka与失败占比Kkb之间的比值Kab，即人员评估信息；

所述生产安全评分信息的具体处理过程如下：

步骤（1）：提取出获取到的人员评估信息、厂房环境信息与设备运行信息；

步骤（2）：从人员评估信息中提取出成功占比与失败占比，处理出人员评估分M1，当成功占比大于失败占比时，人员评估分M1大于预设值A1，当成功占比等于失败占比时，人员评估分M1大于预设值A2，当成功占比小于失败占比时，人员评估分M1大于预设值A3，A1＞A2＞A3；

步骤（3）：从厂房环境信息中提取出环境异常信息与环境正常信息，生成环境评分M2，当出现环境正常信息时，环境评分M2为B1，当出现环境异常信息时，环境评分M2为B2，B1＞B2；

步骤（4）：从设备运行信息中提取出检修比，生成设备运行分M3，当检修比大于预设值时，设备运行分M3为C1，当检修比大于预设值时在预设值范围内时设备运行分M3为C2，当检修比小于预设值时，设备运行分M3为C3，C1＞C2＞C3；

步骤（5）：为了突出厂房内人员身份变动的重要性，现在赋予人员评估分M1一个修正值Z1，赋予环境评分M2一个修正值Z2，赋予设备运行分M3一个修正值Z3，其中Z1＞Z3＞Z2，Z1+Z3+Z2=1；

步骤（6）：通过公式M1*Z1+M2*Z2+M3*Z3=MZ和，即得到生成安全评分信息MZ和。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片生产加工处理系统，其特征在于：所述人员验证模块进行人员验证的具体过程如下：步骤一：提取出实时人员身份信息，进行实时人员身份信息先进行身份卡的识别，当被验证人员携带身份卡时，将其身份卡内的身份信息进行上传；

步骤二：当身份卡内的身份信息与人员数据库中的预存人员信息中任意一个匹配成功时即验证通过，反之则验证失败；

步骤三：当被验证人员未携带身份卡时，即采集其实时人脸信息，将其实时人脸信息与数据库中的预存人员信息中的人脸信息进行匹配处理，当出现任意一个匹配成功时即验证通过，反之则验证失败；

步骤四：记录下验证成功次数、验证失败次数和总验证次数，验证成功次数、验证失败次数和总验证次数即为人员比对信息。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片生产加工处理系统，其特征在于：所述厂房环境信息包括环境异常信息与环境正常信息，所述厂房环境信息的具体处理过程如下：提取出采集到的实时温度信息、湿度信息与空气信息，当实时温度信息、湿度信息均在正常值范围内，且空气信息中有害气体浓度小于预设值时即生成厂房环境信息，此时厂房环境信息为环境正常信息，当实时温度信息、湿度信息中存在任意一个不在正常值范围内，或者空气信息中有害气体浓度超过预设值时即生成厂房环境信息，此时厂房环境信息为环境异常信息。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片生产加工处理系统，其特征在于：所述设备运行信息的具体处理过程如下：提取出采集到的生产设备的运行时长信息与检修信息，将设备运行时长信息标记为P，检修信息为预设时长内的检修次数，将检修信息标记为Q，计算出检修信息Q与设备运行时长信息P之间的比值得到检修比Qp，即设备运行信息。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片生产加工处理系统，其特征在于：所述产品比对信息的具体处理过程如下：步骤一：提取出采集到的产品影像信息与产品重量信息，产品影像信息为从产品正上方向下拍摄的产品照片；

步骤二：再提取出用户导入的预设产品信息，预设产品信息包括预设产品影像信息与预设产品重量信息；

步骤三：提取出产品影像信息与预设产品影像信息，将其进行重叠比对，得到重叠度；

步骤四：再提取出产品重量信息与预设产品重量信息，计算出产品重量信息与预设产品重量信息之间的差值得到产品重量差；

步骤五：设备运行预设时长后获取到实时产量信息，将其运行时长标记为T，将实时产量信息标记为G；

步骤六：提取出用户上传的预设时长内的预估产量信息将其标记为W，计算出实时产量信息G与运行时长T之间的比值得到实时单位产量Gt比，再计算出预估产量信息W与运行时长T之间的比值得到预估单位产量Wt比；

步骤七：重叠度、产品重量差、单位产量Gt比、预估单位产量Wt比为产品比对信息。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片生产加工处理系统，其特征在于：所述产品质量评估分与产量异常信息的具体处理过程如下：步骤1）：提取出产品比对信息，从产品比对信息中提取出重叠度、产品重量差、单位产量、预估单位产量；

步骤2）：将重叠度提取出，生成重叠评分U，当重叠度大于预设值时U即为D1，当重叠度小于预设值时U即为D2，D1＞0＞D2；

步骤3）：将产品重量差提取出，生成产品重量差分Y，当产品重量差大于或者小于预设值时，产品重量差分Y为E1，当产品重量差为0时，产品重量差分Y为E1为E2，E2＞0＞E1；

步骤4）：赋予产品重量差分Y一个修正值L1，赋予重叠评分U一个修正值L2，L1＞L2，L1+L2=1；

步骤5）：通过公式Y*L1+U*L2=Yu，即产品质量评估分；

步骤6）：计算出单位产量与预估单位产量之间的差值得到产量差，当产量差大于预设值或者小于预设值时即生成产量异常信息。