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专利号: 2021109383339
申请人: 西安理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-06-16
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种电子器件高频阻抗曲线测量接插板的设计方法,其特征在于:设计的一种电子器件高频阻抗曲线测量接插板结构为:包括依次从下至上设置的地线层、布线层及顶层,顶层上设有压接装置,接插板两侧设有转接头;

所述地线层上铺设的地线采用的铺铜的方式;

所述布线层上依次设有开路校正线、短路校正线及测试线;开路校正线、短路校正线及测试线中部均设置有间距相同的电气断开的缝隙,开路校正线的缝隙处不与地线层电气连接;短路校正线的缝隙处通过埋孔与地线层电气连接;测试线的缝隙处不与地线层连接,测试线的缝隙上设有测试定位槽;

所述开路校正线、短路校正线及测试线的长度、厚度及宽度完全相同;

所述接插板的相对两侧分别设有三个转接头;

具体包括如下步骤:

步骤1,确定接插板的板材及其介电常数 ;

步骤2,根据不同功率被测贴片元件所对应的尺寸,确定开路校正线、短路校正线、测试线的宽度W及开路校正线、短路校正线、测试线上的缝隙间距d;

步骤3,确定开路校正线、短路校正线、测试线的特性阻抗Z,根据阻抗匹配原则,该特性阻抗Z要与矢量网络分析仪使用的屏蔽线缆保持一致;

步骤4,根据步骤2和步骤3中已确定的开路校正线、短路校正线及测试线的宽度W和特性阻抗Z,确定开路校正线、短路校正线及测试线的厚度t,计算公式如下: (1);

其中,Z为开路校正线、短路校正线及测试线的特性阻抗; 为板材的介电常数;h为开路校正线、短路校正线及测试线与地线层之间的介质厚度;W为开路校正线、短路校正线及测试线的宽度;

步骤5,确定开路校正线、短路校正线、测试线的寄生电感L;

步骤6,确定开路校正线、短路校正线及测试线的线长l,通过如下方程可以得到线长l:(2);

步骤7,确定开路校正线与短路校正线之间、短路校正线与测试线之间寄生电容C;

步骤8,确定开路校正线、短路校正线、测试线之间的线距d,计算公式如下所示:(3);

其中,C为寄生电容值; 为板材的相对介电常数,单位F/m; 为真空介电常数;

步骤9,选择转接头:6个测试转接头的特性阻抗与矢量网络分析仪的电缆线保持一致;

步骤10,确定测试定位槽尺寸:测试定位槽设置在测试线中部的缝隙处,定位槽的长度为被测贴片元件长度的1.2倍;定位槽的宽度为被测贴片元件宽度的1.2倍;

步骤11,确定压接装置:压接装置包含固定柱、弹簧、按压板,固定柱和按压板选择非金属材料。

2.根据权利要求1所述的一种电子器件高频阻抗曲线测量接插板的设计方法,其特征在于:所述压接装置包括按压板,按压板的两端分别通过固定柱连接在顶层板上,每个固定柱上同轴套接有弹簧。