1.相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法，其特征在于：具体包括如下步骤：

步骤1，基于传感器子孔径阵列对光斑的辐照功率和响应电压特性，定义一个响应率参数R(i,j)，作为参考变量；

步骤2，根据步骤1中定义的响应率参数R(i,j)，设置一个阈值T，判断并检测出焦平面的坏点，并将坏点处的响应率的值置零去除；

步骤3，采用坏点周围的有效点信息对步骤2检测的坏点位置的信息进行插值预测和代替补偿；

步骤4，重复执行步骤2～3，进行动态波前坏点去除与补偿，直到步骤2中设置的阈值范围内检测不到坏点，输出此时的光斑阵列图。

2.根据权利要求1所述的一种相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法，其特征在于：所述步骤1的具体过程为：假设波前传感器为M×N的焦平面子孔径阵列，M和N分别是焦平面子孔径像元的行数和列数，在不受大气湍流影响下，采用工作频率稳定的平面波前激光束对准入射时，每个子孔径对光斑信号的响应率R(i,j)定义为各像元在单位辐照功率下的输出电压，表达式为：式中，i＝1‑M，j＝1‑N，P(i,j)为第(i,j)像元所接收到的辐照功率，V(i,j)为第(i,j)像元对于辐照功率P(i,j)的响应电压。

3.根据权利要求2所述的一种相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法，其特征在于：所述步骤2的具体过程为：所述坏点包括异常过亮和异常过暗像元，如果实际获得的第(i,j)像元的响应率满足下式，则判定该像元为过亮坏点：

其中， h和d分别是过亮像元和过暗像元个数；

如果实际获得的第(i,j)像元的响应率满足如下关系式，则判定该像元为过暗坏点：将检测到的含有坏点的子孔径的响应值置零，来去除缺光子孔径。

4.根据权利要求3所述的一种相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法，其特征在于：所述步骤3的具体过程为：选取与坏点子孔径相邻的8个插值补偿点，具体为：以P(i,j)为中心的8个相邻子孔径辐照功率分别表示为P(i,j‑1)、P(i,j+1)、P(i‑1,j‑

1)、P(i‑1,j+1)、P(i‑1,j)、P(i+1,j‑1)、P(i+1,j+1)、P(i+1,j)；

若8个相邻的子孔径光斑都是有效的点，则直接选用进行步骤4；

若8个相邻的子孔径光斑的其中某个子孔径光斑是坏点，就在该光斑的相邻处就近选取下一个正常元做插值点。

5.根据权利要求4所述的一种相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法，其特征在于：所述步骤3中，根据8个相邻子孔径的相关性，确定插值补偿的加权系数，具体为：

若8个相邻点都不是坏点，即8个相邻的子孔径光斑都是有效点，则插值补偿值为：此时，8个点对中心坏点的信号贡献是相等的，取a＝b＝c＝d＝e＝f＝g＝h＝1/8；

若8个相邻点的其中某个相邻点为坏点，假设P(i‑1,j)为坏点，则用下一点P(i‑2,j)代替，此时，补偿值为：

此时，取a＝c＝d＝e＝f＝h＝1/8，b＝1/16，g＝3/16。