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专利号: 2021102916313
申请人: 电子科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-12-01
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.一种X波段微带反射单元,包括介质基片(1)、印制在介质基片(1)上面的金属圆形贴片(2)、印制在介质基片(1)正反两面八段相同的相位延迟线(3)、空气层(4)以及金属地板(5);所述相位延迟线(3)由分别印制在介质基片(1)正反面的第一金属小圆片(31)、第二金属小圆片(32)以及金属通孔(33)和贴片(34)组成;所述金属通孔(33)用于连接第一金属小圆片(31)、第二金属小圆片(32);所述贴片(34)连接在介质基片(1)下方的第二金属小圆片(32)上,为相位延迟线(3)的主要组成部分;所述八段相位延迟线(3)均分布于反射单元的一侧、相对于反射单元中心呈放射状分布。

2.根据权利要求1所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述介质基片(1)的厚度为

1mm,所述金属圆形贴片(2)的半径为4.7mm,所述相位延迟线(3)的长为4.3mm,所述空气层(4)的厚度为0.4mm。

3.根据权利要求1所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述X波段微带反射单元通过调节金属圆形贴片(2)与不同位置处的相位延迟线(3)的通断情况,可以实现单元反射相位在360°范围内3比特可控调节。

4.根据权利要求1所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述第一金属小圆片(31)的半径为0.5mm,所述第二金属小圆片(32)的半径为0.5mm。

5.根据权利要求1所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述金属通孔(33)的半径为0.3mm。

6.根据权利要求1所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述贴片(34)为矩形。

7.根据权利要求1所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述空气层(4)位于介质基片(1)和金属地板(5)之间,用于安装位于介质基片(1)反面的相位延迟线。

8.根据权利要求1所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述X波段微带反射单元中介质基片(1)、空气层(4)以及金属地板(5)均具有正方形的单元边界,且具有相同边长。

9.根据权利要求8所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述边长为12.7mm。

10.根据权利要求1所述的X波段微带反射单元,其特征在于:所述八段相位延迟线(3)均分布于反射单元的一侧、相对于反射单元中心呈放射状分布,且相邻相位延迟线之间的夹角为22.5°。