1.一种通用型斜照明显微成像系统，其特征是，包括光源、遮挡板（3）、聚光镜、样品台、物镜、透镜、相机（2）和计算机；

所述遮挡板位于所述光源的上方，聚光镜位于所述遮挡板的上方；所述样品台位于所述聚光镜的正上方；所述物镜位于所述样品台的正上方；所述透镜位于所述物镜的正上方，且所述透镜和所述物镜的中心线重合；所述相机位于所述透镜正上方，用于采集透镜显微成像的图像；所述相机通过数据线与计算机相连接，用于将采集的图像发送给计算机，由计算机对图像进行处理；

所述图像进行处理的过程包括计算图像行像素平均灰度值  或列像素平均灰度值与校正目标灰度值的比例系数ki；

其中，  ； 为图像第 行或第 列像素的平均

灰度值，i≦图像行数或图像列数， 表示图像所有行像素或所有列像素的最大值，表示图像所有行像素或所有列像素的最小值；

所述遮挡板（3）包括遮挡板本体，所述遮挡板本体之内设置有遮挡部（31）和通光孔（32）；

所述遮挡板本体为圆环形本体；所述遮挡部（31）为弯月形；所述遮挡部（31）和所述通光孔（32）组合成圆形；

当物镜的放大倍数为10倍或者20倍时，遮挡板本体的遮挡面积为67%；

当物镜的放大倍数为40倍或者60倍时，遮挡板本体的遮挡面积为63%。

2.一种根据权利要求1所述的通用型斜照明显微成像系统的校正算法，其特征是，对于相机（2）采集的显微成像图像，采用图像处理算法校正遮挡板（3）形成非均匀照明对成像的影响；所述校正算法包括如下步骤：步骤1：采用相机预先拍摄空样本时倾斜照明的显微图像；

步骤2：对步骤1所采集的显微成像图像，计算该显微成像图像中的每一行像素的平均灰度值 ；或计算该显微成像图像中的每一列像素的平均灰度值 ；

步骤3：通过步骤2计算的 ，确定校正目标灰度值G；

步骤4：计算图像行像素平均灰度值 或列像素平均灰度值 与校正目标灰度值的比例系数ki；

其中， ；

为图像第 行或第 列像素的平均灰度值，i≦图像行数或图像列数，表示图像所有行像素或所有列像素的最大值， 表示图像所有行像素或所有列像素的最小值；

步骤5：计算获取校正图像的灰度值，进而获得校正后的图像。