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专利号: 2020203197243
申请人: 江苏艾立特半导体科技有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2025-08-30
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.一种镭雕边带测试装置,其特征在于,包括基座、镭射机构、测试机构和紧固机构,所述镭射机构、所述测试机构和所述紧固机构设在所述基座上;所述镭射机构包括支架、连接杆、镭射头、第一平移机构和第二平移机构,所述支架设在所述基座上,所述连接杆垂直设在支架上,所述连接杆内设有所述第一平移机构,所述第二平移机构设在所述第一平移机构上,所述镭射头设在所述第二平移机构上;所述测试机构包括测试装置和支架,所述测试装置设在所述支架上;

所述紧固机构包括转盘、夹紧板、伸缩杆、推板、压块、限位块和弹簧,所述转盘设在所述基座上,所述夹紧板设在所述转盘上,所述推板嵌在所述夹紧板上,所述夹紧板一端设有限位块,所述夹紧板另一端内部设有所述伸缩杆,所述限位块连接所述推板下半段,所述压块嵌在所述推板上半段,所述压块与所述推板之间设有所述弹簧。

2.根据权利要求1所述的一种镭雕边带测试装置,其特征在于,所述第一平移机构和所述第二平移机构平移方向垂直。

3.根据权利要求1所述的一种镭雕边带测试装置,其特征在于,所述第一平移机构包括第一转轴、第一传送带和连接块,所述第一转轴设在所述连接杆上,所述第一传送带套接在所述第一转轴上,所述连接块设在下方所述第一传送带上。

4.根据权利要求1所述的一种镭雕边带测试装置,其特征在于,所述第二平移机构设在连接块内,所述第二平移机构包括第二转轴和第二传送带,所述第二转轴设在所述连接块内,所述第二传送带套接在所述第二转轴上,下方所述第二传送带上设有镭射头。

5.根据权利要求1所述的一种镭雕边带测试装置,其特征在于,所述支架内设有螺纹杆,所述连接杆和所述测试装置套接在所述螺纹杆上。

6.根据权利要求1所述的一种镭雕边带测试装置,其特征在于,所述第一平移机构、所述第二平移机构和所述转盘通过电机控制。

7.根据权利要求1所述的一种镭雕边带测试装置,其特征在于,所述夹紧板设有三个且相邻两个之间的夹角为120°。

8.根据权利要求1所述的一种镭雕边带测试装置,其特征在于,所述装置旁设有用于观察和设定的电脑。