1.一种集成电路板生产用残次品测试装置，包括装置主体（1）、万用表（2）、连接探针（11）、导线（13）和连接夹（17），其特征在于：所述装置主体（1）上安装有万用表（2），所述装置主体（1）的下侧固定有工作主体（3），且工作主体（3）与装置主体（1）的连接处通过连接销轴（4）与活动主体（5）相连接，并且活动主体（5）的外端设置有挡位板（6），所述活动主体（5）上开设有第一滑槽（7），且第一滑槽（7）的内部连接有限位块（15），所述限位块（15）的内侧固定有滑动杆（8），且限位块（15）的外侧安装后第一螺栓（9），所述滑动杆（8）上开设有第二滑槽（16），且第二滑槽（16）的内部连接有滑动块（10），所述滑动块（10）的内部固定有连接探针（11），且滑动块（10）的下侧安装有第二螺栓（12），所述连接探针（11）的下端通过连接夹（17）与导线（13）相连接，且导线（13）电性连接有万用表（2），所述装置主体（1）的后侧安装有活动板（14）。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路板生产用残次品测试装置，其特征在于：所述万用表（2）通过导线（13）与连接探针（11）之间为电性连接，且导线（13）通过连接夹（17）与连接探针（11）之间为可拆卸连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路板生产用残次品测试装置，其特征在于：所述工作主体（3）与装置主体（1）为一体化结构，且工作主体（3）的上侧为凹槽状结构。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路板生产用残次品测试装置，其特征在于：所述活动主体（5）通过连接销轴（4）在装置主体（1）上构成翻转结构，且活动主体（5）的尺寸小于工作主体（3）的上侧尺寸。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路板生产用残次品测试装置，其特征在于：所述滑动杆（8）的两端通过限位块（15）与第一滑槽（7）的连接在活动主体（5）上构成滑动结构，且限位块（15）为四楞柱，并且限位块（15）的宽度等于第一滑槽（7）的宽度。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路板生产用残次品测试装置，其特征在于：所述滑动块（10）嵌入式活动连接在滑动杆（8）上的第二滑槽（16）内，且连接探针（11）固定设置在滑动块（10）上，并且连接探针（11）的上端凸出活动主体（5）上侧面2mm。