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专利号: 2020115853695
申请人: 重庆邮电大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-05-14
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.一种噪声下瞬态微弱微波信号频谱光学检测方法及装置,可在宽带范围内检测和分析噪声下微弱微波信号的频谱信息。其特征在于,双相干的光频梳及M‑bit光延迟模块组成的信道化接收系统。其中一个光频梳经电光调制器将瞬态微弱微波信号克隆到N个梳齿上,M

然后进入到M‑bit光延迟模块,复制得到2个光学特征相同的时域副本;同时,该光频梳和本振光频梳的重复频率差设置为δf,相干检测模块带宽为δf。两支路光频梳分别进入到两波分解复用器中分路,各分路的光信号进入到多信道相干检测模块执行光电转换及正交下变频,得到中频信号。通过对得到中频信号累加平均、分析,大幅度提升瞬态微弱微波信号频谱检测的信噪比。

2.根据权利要求1所述之一种噪声下瞬态微弱微波信号频谱光学检测方法,其特征在于,其所述的双相干光频梳,构建了光子学微波信道结构,同时实现了瞬态微弱微波信号的频谱克隆。

3.根据权利要求1所述之一种噪声下瞬态微弱微波信号频谱光学检测方法,其特征在于,其所述的M‑bit光延迟模块,其包含M个延迟单元,且延迟量以1/δf为基数成倍数增长。

M

该延迟模块可将克隆到光频梳的瞬态微弱微波信号在时域上以周期1/δf复制2个。

4.根据权利要求1所述之一种噪声下瞬态微弱微波信号频谱光学检测方法,其特征在于,在低速的数字处理及同步累加模块中,该检测系统可自动配置以周期1/δf对正交下变频的各信道中频信号同步累加平均,获得信噪比改善。

5.根据权利要求1或2或3或4所述之一种噪声下瞬态微弱微波信号频谱光学检测装置。

其特征在于,包含由两个相干的光频梳、M‑bit光延迟模块、多信道光相干探测模块、数字处理及同步累加模块组成;上支路的光频梳对瞬态微波信号进行克隆,M‑bit光延迟模块对克隆到光频梳的瞬态微波信号进行周期复制;下支路本振光频梳与上支路合路完成瞬态微波信号信道化频谱检测;数字处理单元包含同步累加模块对各信道得到的中频信号累加平均、分析。