1.一种工业配件表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：采集放置在传送带上的工业配件ROI区域图像信息；

对所述图像信息灰度化并进行二值化处理，得到二值化图像信息；

对二值化图像信息进行形态学处理和模型检测，并得到存在缺陷点数量信息和位置信息的目标图像信息；

在缺陷点的数量超过预设的合格标准数后，输出驱动信号以将存在缺陷的工业配件分拣出；

所述采集放置在传送带上的工业配件ROI区域图像信息，包括：在工业配件的同一检测表面以不同的光照角度采集多个图像信息；

将多个图像信息整合成一个图像信息；

所述对所述图像信息灰度化并进行二值化处理，得到二值化图像信息，包括：消除所述图像信息的色调以及饱和度，同时保留所述图像信息的亮度，得到灰度图像；

计算所述灰度图像的最优分割阈值；

基于所述最优分割阈值将所述灰度图像划分为背景图像以及目标图像，所述目标图像为前景对应的图像；

通过im2bw函数将所述背景图像以及所述目标图像进行转换，得到所述二值化图像信息；

根据所述最优分割阈值保留所述二值化图像信息中的连通区域，并将所述连通区域外的颜色填充为黑色，其中，所述连通区域为图像中工业配件的边缘轮廓；

所述计算所述灰度图像的最优分割阈值，包括：通过以下公式计算所述灰度图像的总平均灰度：u=w0×u0+w1×u1，其中，u为所述灰度图像的总平均灰度；w0为前景像素点数所占的图像的比例；u0为前景像素点平均灰度；w1为背景像素点数所占的图像的比例；u1为背景像素点平均灰度；

2 2

通过以下公式计算前景图像和背景图像的方差：g=w0×(u0‑u)+w1×(u1‑u) ，其中，g为前景图像和背景图像的方差；

将最大的所述方差对应的分割阈值确定为所述最优分割阈值。

2.根据权利要求1所述的一种工业配件表面缺陷检测方法，其特征在于，通过预先建立的检测模型对图像信息进行检测时，包括：在工业配件的图像信息上建立坐标系；

定义超过预设灰度值的部分图像信息为缺陷点；

确定缺陷点在坐标系上的坐标。

3.根据权利要求2所述的一种工业配件表面缺陷检测方法，其特征在于，确定缺陷点在坐标系上的坐标时，包括：采集缺陷点的坐标集合；

定义集合中的某一缺陷像素点作为该缺陷点的坐标。

4.一种工业配件表面缺陷检测系统，其特征在于，包括：信息采集模块，用于获取工业配件的图像信息；

信息处理模块，用于对工业配件的图像信息做图像处理，以检测出图像信息中是否存在缺陷点，并根据缺陷点的数量判断出该工业配件是否为合格产品；

分拣模块，用于分拣出不合格的工业配件；

所述信息采集模块还具体用于所述获取工业配件的图像信息，包括：在工业配件的同一检测表面以不同的光照角度采集多个图像信息；

将多个图像信息整合成一个图像信息；

所述信息处理模块还具体用于所述对工业配件的图像信息做图像处理，包括：消除所述图像信息的色调以及饱和度，同时保留所述图像信息的亮度，得到灰度图像；

计算所述灰度图像的最优分割阈值；

基于所述最优分割阈值将所述灰度图像划分为背景图像以及目标图像，所述目标图像为前景对应的图像；

通过im2bw函数将所述背景图像以及所述目标图像进行转换，得到二值化图像信息；

根据所述最优分割阈值保留所述二值化图像信息中的连通区域，并将所述连通区域外的颜色填充为黑色，其中，所述连通区域为图像中工业配件的边缘轮廓；

所述信息处理模块还具体用于所述计算所述灰度图像的最优分割阈值，包括：通过以下公式计算所述灰度图像的总平均灰度：u=w0×u0+w1×u1，其中，u为所述灰度图像的总平均灰度；w0为前景像素点数所占的图像的比例；u0为前景像素点平均灰度；w1为背景像素点数所占的图像的比例；u1为背景像素点平均灰度；

2 2

通过以下公式计算前景图像和背景图像的方差：g=w0×(u0‑u)+w1×(u1‑u) ，其中，g为前景图像和背景图像的方差；

将最大的所述方差对应的分割阈值确定为所述最优分割阈值。

5.根据权利要求4所述的一种工业配件表面缺陷检测系统，其特征在于，所述信息采集模块包括：照明单元，用于对工业配件提供照明；

图像采集单元，用于采集工业配件各个光照角度下的图像信息。

6.根据权利要求4所述的一种工业配件表面缺陷检测系统，其特征在于，所述信息处理模块包括：图像切分单元，用于将图像信息分隔成像素点；

图像处理单元，用于对图像信息进行灰度化和二值化处理；

缺陷定位单元，用于在图像信息上建立坐标系，并判别出超过预设灰度值部分的图像信息，确定图像信息在坐标系上的坐标；

信号输出单元，在判断出图像信息中存在超过预设标准的缺陷点后，输出驱动信号。

7.根据权利要求4所述的一种工业配件表面缺陷检测系统，其特征在于，所述分拣模块包括：驱动单元，连接至信息处理模块，用于接收驱动信号；

分拣装置，连接至驱动单元，根据驱动单元接收的驱动信号分拣出不合格的工业配件。

8.一种智能设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至3中任一项所述方法的计算机程序。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至3中任一项所述方法的计算机程序。