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专利号: 2020114508310
申请人: 江汉大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-10-29
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种小径长圆棒料表面裂纹检测装置,其特征在于,包括:两组滚轮架,每个滚轮架都包括被传动机构驱动的主轴、等距间隔套装在主轴上的滚轮、支撑主轴的轴承座,两组滚轮架按以下方式布置:两滚轮架的主轴互相平行,两主轴上的滚相互交错排列,一侧主轴上的滚轮侵入另一侧的主轴上相邻的滚轮之间,滚轮与主轴连结固定能随主轴旋转,使所述两组滚轮架之间形成支撑被测圆棒料的V型空间;

激光位移传感器,安装在V型空间正上方,能向V型空间处的被测圆棒料发射激光,并将反射的激光束转化为电压采样信号,所述激光位移传感器与移动机构连接固定,移动机构能沿两组滚轮架纵长方向的中线平行往复移动,所述激光位移传感器与上位机信号连接;

电动推杆,至少布置两个,均平行且垂直于两根所述的主轴,两电动推杆相向布置于两组滚轮支架两侧,使电动推杆的伸缩端高于主轴且低于V型空间的底部,并且电动推杆的伸缩端能伸入至与其正对的主轴上相邻的两滚轮之间,两电动推杆信号连接控制器,控制器与上位机信号连接;

激光束从被测圆棒料的光滑表面反射后,被转化为位于标准量程模拟电压范围内的电压值,而激光束从被测圆棒料的表面的裂纹底部反射后,被转化为高于标准量程模拟电压上限的电压值,上位机从采集的电压采样信号中按以下方式筛选有效电压采样点;

若电压采样点电压值低于标准量程模拟电压上限则剔除,得到初选电压采样点,若初选电压采样点与相邻的前一个或后一个初选电压采样点的时间间隔大于1/f,则剔除,f为激光束反射采样频率,所述上位机统计有效电压采样点的个数y,通过采样频率f、圆棒料被传动机构驱动旋转的转速w、圆棒料的外径dw和高电平采样点的个数y计算出被测圆棒料上裂纹的宽度,电压的大小代表裂纹的深度,裂纹的宽度=3.14*dw*w*y/(2f),若y>0,则控制两组滚轮支架一侧的电动推杆伸出,将V型空间内的被测圆棒料推出至废料堆,若y=0,则控制两组滚轮支架另一侧的电动推杆伸出,将V型空间内的被测圆棒料推出至成品堆。

2.根据权利要求1所述的圆棒料表面裂纹检测装置,其特征在于,所述激光位移传感器的移动速度为v,L=v/w,

其中,L为圆棒料表面裂纹的长度检测下限,w为圆棒料被传动机构驱动旋转的转速,dw为圆棒料的外径。