1.一种集成电路测试针床，包括驱动部(10)、支撑部(20)、拼装部(30)和测试部(40)，其特征在于，所述驱动部(10)向上连接压力机，驱动部(10)上安装被测板卡，拼装部(30)安装在支撑部(20)上，测试部(40)安装在拼装部(40)上，驱动部(10)包括盖板(11)、板卡槽(12)、立柱(13)，盖板(11)两侧各具有一个朝向内侧的板卡槽(12)，板卡槽(12)前端开口后端封闭，盖板(11)顶部具有立柱(13)，立柱(13)向上连接压力机，板卡槽(12)内安装被测板卡，支撑部(20)包括横梁(21)、滑槽(22)和顶部槽(23)，横梁(21)具有一对，两个横梁(21)分列驱动部(10)下方的两侧，横梁(21)具有朝向内侧的滑槽(22)，滑槽(22)前端开口后端封闭，横梁(21)顶部具有贯通滑槽(22)的顶部槽(23)，拼装部(30)包括横杆(31)、安装槽(32)和螺钉(33)，横杆(31)从滑槽(22)嵌入支撑部(20)，横杆(31)上具有安装槽(32)，安装槽(32)上安装测试部(40)，测试部(40)包括支座(41)、顶针(42)、外六角螺母(43)、弹簧(44)和内六角螺母(45)，测试部(40)安装在拼装部(30)的安装槽(32)内，支座(41)嵌入安装槽(32)内，外六角螺母(43)从支座(41)底部将支座(41)固定在拼装部(30)上，顶针(42)安装在支座(41)内，外六角螺母(43)将支座(41)固定在拼装部(30)上，弹簧(44)安装在支座(41)内部的顶针(42)底部，内六角螺母(45)从支座(41)底部将弹簧(44)安装在支座(41)内部，内六角螺母(45)的内六角槽贯穿整个螺母。

2.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述板卡槽(12)侧部安装卡片(14)，卡片(14)前端为斜面，卡片(14)紧贴盖板(11)前端面的部位形成卡扣。

3.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述横杆(31)两端通过螺钉(33)固定在滑槽(22)内。

4.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述支座(41)为中空结构，支座(41)包括圆头(411)、上孔(412)、上凸台(413)、方块(414)和下螺杆(415)，圆头(411)位于支座(41)顶部，圆头(411)中部具有上孔(412)，顶针(42)从上孔(412)穿出支座(41)，圆头(411)底部具有上凸台(413)，上凸台(413)下方具有方块(414)，方块(414)嵌入安装槽(32)，上凸台(413)将整个支座(41)卡合在横杆(31)上，方块(414)下方具有下螺杆(415)，下螺杆(415)上安装外六角螺母(43)。

5.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述顶针(42)包括锥头(421)、下凸台(422)和导线(423)，锥头(421)从上孔(412)穿出支座(41)，用于向上对接被测板卡的被测出点。

6.锥头(421)底部具有下凸台(422)，下凸台(422)将顶针(42)限位在支座(41)中空的内孔中，锥头(421)向下穿过下凸台(422)连接导线(423)，导线(423)再连接测试电路。

7.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述下凸台(422)和上孔(412)采取绝缘措施。