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专利号: 202011070429X
申请人: 南京信息工程大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-12-30
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种alpha相氧化镓薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、对m面蓝宝石衬底进行清洗,吹干后放入衬底托盘;

步骤二、将衬底载入真空室,待真空室的真空度达到3×10-6 Pa后,通入高纯氩气,气体流量控制在40 sccm,调节真空室真空度为1Pa;

步骤三、对高纯Ga2O3陶瓷靶材进行预处理;

步骤四、采用磁控溅射法在衬底上沉积薄膜,衬底温度为25摄氏度,射频功率设置为

40W,沉积时间为2小时;

步骤五、将制备好的薄膜放入管式炉中进行后退火处理,后退火温度为500-800摄氏度,退火时间为2小时。

2.根据权利要求1所述alpha相氧化镓薄膜的制备方法,其特征在于:所述步骤一中,将衬底分别在丙酮、无水乙醇和去离子水中超声清洗15分钟后用氮气吹干。

3.根据权利要求1所述alpha相氧化镓薄膜的制备方法,其特征在于:所述步骤四中,沉积薄膜时靶材和衬底的距离为6.5 cm。

4.根据权利要求1所述alpha相氧化镓薄膜的制备方法,其特征在于:所述步骤四中,获得薄膜厚度为300nm。

5.根据权利要求1所述alpha相氧化镓薄膜的制备方法,其特征在于:所述步骤五中,退火气氛为高纯氧气。