利索能及
我要发布
收藏
专利号: 202010841593X
申请人: 合肥工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-12-30
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.一种利用弧斑等离子体去除叶片表面硫化物腐蚀层的方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1:硫化层厚度的确定

从含有硫化物腐蚀层的直升机引擎压缩机叶片上测量出表面硫化层的厚度d;

步骤2:去除参数确定模型的建立

2a、利用弧斑等离子体装置蒸发试样单个弧斑范围内h1厚度的硫化层,最佳电流参数为Ih1;调整不同的硫化层厚度,获得相应的最佳电流参数;

2b、以一个硫化层厚度和该特定厚度下的最佳电流参数为一组去除参数,将多组去除参数数据导入OriginPro软件,以硫化层厚度为X轴,以相应最佳电流参数为Y轴,通过OriginPro软件进行数据处理;

2c、将经过OriginPro软件处理后的数据导入Matlab软件的工作目录,横坐标X为硫化层厚度,纵坐标Y为滤波后的电流参数;在命令窗口输入:>>load x.txt

>>load y.txt

>>cftool

运行命令,打开曲线拟合工具箱,函数类型选择Custom Equation,手动添加ExpDecay1函数模型,其方程为:f(x)=a+b×exp(-(x-c)/d);根据ExpDecay1函数对去除数据进行拟合,确定方程中a、b、c、d的值,将其代入函数模型即可获得去除参数确定模型;

步骤3:将步骤1测得的硫化层厚度代入步骤2获得的去除参数确定模型中,即可获得相应的去除参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

步骤1中,在测量硫化层厚度时,以垂直于硫化层的截面为检测面,以基体表面开始生成硫化层的位置与硫化层终了处位置距离的差值作为硫化层厚度的测量值d。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

步骤2a中,所述最佳电流参数是指利用弧斑等离子体装置对不同硫化层厚度的试样分别进行弧斑等离子体去除工艺,成功去除表面硫化层,且处理后试样表面粗糙度小于Ra=

3.0、满足压缩机叶片表面的使用要求的实验视为有效实验。

4.根据权利要求1或3所述的方法,其特征在于:

步骤2a中,在调整不同的硫化层厚度时,硫化层厚度的调整范围为5~59μm,在上述范围之内至少取10-15个不同的厚度值,不同的厚度值之间呈梯度变化。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

步骤2b中,所述数据处理是将多组去除参数数据导入OriginPro软件,以硫化层厚度为X轴,以相应最佳电流参数为Y轴;选中数据,依次点击:Plot-Line-Line,获得折线图;依次点击:Data-Remove Bad Data Points,消除异常数据;依次点击:Analysis-Signal Processing-Smoothing-Open Dialog...,打开平滑选项对话框:将对话框中的Recalculate选项设置为:Audo,滤波方法设置为:Savitzky-Golay,Points of Window选项参数设置为:5,点击OK,进行滤波处理,得到消除异常数据和滤波处理后的曲线数据。