1.一种设备位移快速检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1：将若干个LED灯组成LED阵列；

步骤S2：根据LED阵列的大小，生成n个N阶的hadamard矩阵，并记录下相应的矩阵；

步骤S3：将LED矩阵的图像经过透镜，投影到被测量设备与相邻固定的参照物体上的N个观察点上，每一个观察点对应一个LED灯，光电探测器探测观察点的反射光信号；

步骤S4：在设备没有工作时，根据hadamard矩阵点亮LED阵列，每点亮一次，用光电探测器探测得到一个反射光信号的光强值，共计得到n个光强值并记录，作为标定值；

步骤S5：在设备工作后时，利用相同的hadamard矩阵点亮LED阵列，并记录下n个反射光信号的光强值，并归一化，作为检测值；

步骤S6：求出检测值与标定值的二范数，将二范数与设定值进行对比判断设备是否发生位移。

2.根据权利要求1所述的一种设备位移快速检测方法，其特征在于：所述步骤1中的LED灯型号相同。

3.根据权利要求2所述的一种设备位移快速检测方法，其特征在于：所述步骤2中hadamard矩阵的系数50％为0，50％为1，矩阵中每个数字代表一个控制信号，1表示LED点亮，0表示LED不点亮。

4.根据权利要求3所述的一种设备位移快速检测方法，其特征在于，所述步骤4标定值的计算过程为：计算每个观察点的光强值，得到设备未工作时采集的n次结果向量其中：cji为随机系数，其值为0或1,下标j代表第j次测量，i代表第i个观察点，Pi代表第i个观察点在有LED照射时的的亮度，In表示第n次测量得到的光强值；

求出光强值中的最大值Imax和最小值Imin，将所有的值进行归一化处理：(i＝1,…n)，得到标定值Y(I′1,I′2,...,I′n)。

5.根据权利要求4所述的一种设备位移快速检测方法，其特征在于：所述步骤5中检测值的计算过程为：利用步骤S4中相同的hadamard矩阵，以同样的顺序进行点亮LED灯，得到n次结果向量其中： 代表设备工作后第i个观察点在有LED照射时的亮度， 表示设备工作后第n次测量得到的光强值；

求出光强值中的最大值Imax和最小值Imin，将所有的值进行归一处理：(i＝1,…n)，得到检测值

6.根据权利要求5所述的一种设备位移快速检测方法，其特征在于：所述步骤S6具体为：计算检测值与标定值的二范数||Y-Yt||2，将二范数与设定的阈值对比，若二范数大于设定的阈值，则判定设备发生了位移；若二范数小于设定的阈值，则判定设备没有发生位移。

7.一种设备位移快速检测系统，其特征在于，包括：控制系统、若干个LED灯组成的LED阵列、透镜、光电探测器，所述控制系统与LED灯、光电探测器电性连接；

所述控制系统用于控制LED阵列中LED灯的点亮以及收集光电探测器的探测信号；

所述LED阵列根据控制系统的控制点亮对应的LED灯；

所述透镜用于将LED灯发出的光进行汇聚成图像，投影在被测量设备与相邻固定的参照物体上的N个观察点上；

所述光电探测器用于探测反射的光信号。

8.根据权利要求7所述的一种设备位移快速检测系统，其特征在于：所述参照物体为墙面或工作台。