1.一种测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、搭建测试光路，所述测试光路包括线偏振片、四分之一波片、第一分束器、聚光元件、第二分束器、第一光探测器和第二光探测器，参考光依次经线偏振片和四分之一波片调制后入射至第一分束器，所述第一分束器将调制后的参考光与待测矢量随机光合束，获得合束光，所述合束光依次经聚光元件和第二分束器射出，所述第二分束器输出复合光场在X分量和y分量光场分布，所述复合光场的X分量在第一光探测器上成像，所述复合光场的y分量在第二光探测器上成像；

S2、遮挡参考光，待测矢量随机光依次经第一分束器、聚光元件和第二分束器，第二分束器将待测量随机光分束为第一X分量光和第一Y分量光，所述第一光探测器拍摄并记录第一X分量光的光强分布信息Ix(r)，所述第二光探测器拍摄并记录第一Y分量光的光强分布信息Iy(r)；

S3、固定线偏振片，转动四分之一波片，使得四分之一波片的快轴方向与线偏振片的透光轴方向一致；

S4、遮挡待测矢量随机光，移除参考光的遮挡，所述第一光探测器拍摄并记录第二X分量光的光强分布信息IxR1(r)，所述第二光探测器拍摄并记录第二Y分量光的光强分布信息IyR1(r)；

S5、移除待测矢量随机光的遮挡，所述第一光探测器记录参考光与待测矢量随机光的复合光场在X分量的光强分布信息IxC1(r)，所述第二光探测器记录参考光与待测矢量随机光的y分量复合光的光强分布信息IyC1(r)；

S6、转动四分之一波片，使四分之一波片的快轴方向与线偏振片的透光轴方向垂直；

S7、遮挡待测矢量随机光，移除参考光的遮挡，所述第一光探测器拍摄并记录第三X分量光的光强分布信息IxR2(r)，所述第二光探测器拍摄并记录第三Y分量光的光强分布信息IyR2(r)；

S8、移除待测矢量随机光的遮挡，所述第一光探测器记录参考光与待测矢量随机光的复合光场在X分量的光强分布信息IxC2(r)，所述第二光探测器记录参考光与待测矢量随机光的y分量复合光的光强分布信息IyC2(r)；

S9、计算获得待测矢量随机光的振幅和相位。

2.如权利要求1所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述“计算获得待测矢量随机光的振幅和相位”，包括以下步骤：S91、根据S5获得的IxC1(r)和IyC1(r)与S8中获得IxC2(r)和IyC2(r)计算获得互相关矩阵元 和S92、计算参考光与测矢量随机光的非相干叠加的光强互相关

和

S93、根据S91和S92获得差值ΔGxx(r1,r2,Δφxx)、ΔGxy(r1,r2,Δφxy)、ΔGyx(r1,r2,Δφyx)和ΔGyy(r1,r2,Δφyy)，其中，

S94、通过调制S93中的差值ΔGxx(r1,r2,Δφxx)、ΔGxy(r1,r2,Δφxy)、ΔGyx(r1,r2,Δφyx)和ΔGyy(r1,r2,Δφyy)的相位延迟为0或 获得待测矢量随机光的二维空间相干结构分布。

3.如权利要求2所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述S91具体包括：矢量随机光场的空间相关性由复相干矩阵表示，复相干矩阵的矩阵元为：其中，下标x和y表示矢量随机光场的两个互相正交的分量，

表示谱密度矩阵的矩阵元，可用来表征矢量随机光场的二阶统计特性，α,β∈{x,y}，Ex(r)、Ey(r)分别表示随机光场两个分量的电场矢量；

Sx(r)＝＝|Ex(r)|2、Sy(r)＝＝|Ey(r)|2表示光谱密度；

S5中复合光场的电场 和S8中复合光场的电场 为：

根据高斯统计定理，S5中复合光场和S8中复合光场的互相关矩阵的矩阵元表示为：其中，

Δφαβα,β∈{x ,y}表示两参考场的 相位延迟，

4.如权利要求3所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述S92具体包括：

5.如权利要求4所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述S93具体包括：

6.如权利要求5所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述S94具体包括：令Δφαβ＝0或者Δφαβ＝π/2，获得相干矩阵的实部和虚部，其中，μ'αβ(r1,r2)表示复相干矩阵的实部，μ”αβ(r1,r2)表示复相干矩阵的虚部，获得待测矢量随机光场的二维空间相干结构分布。

7.如权利要求1所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述参考光由氦氖激光器发出。

8.如权利要求1所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述聚光元件为透镜。

9.如权利要求1所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述第一光探测器为CCD或CMOS。

10.如权利要求9所述的测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法，其特征在于，所述第一光探测器与第二光探测器的型号和参数相同。