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专利号: 2020103353231
申请人: 武汉派涅尔科技有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-05-14
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种建筑物尺寸测量系统,其特征在于:包括视觉检测装置(1)和与视觉检测装置(1)对应设置的标靶(2),所述视觉检测装置(1)设置在建筑物(3)的待检测点上,所述标靶(2)设置在远离建筑物(3)的任一基准点上,所述标靶(2)为多面体结构。

2.根据权利要求1所述的一种建筑物尺寸测量系统,其特征在于:所述视觉检测装置(1)可移动地设置在建筑物(3)上。

3.根据权利要求2所述的一种建筑物尺寸测量系统,其特征在于:所述标靶(2)设置有多个,多个所述标靶(2)分散设置,多个所述标靶(2)分别设置在远离建筑物(3)的多个基准点上。

4.根据权利要求2所述的一种建筑物尺寸测量系统,其特征在于:所述视觉检测装置(1)包括激光雷达或超声波雷达。

5.一种建筑物尺寸测量方法,其是基于权利要求2-4任一项所述的一种建筑物尺寸测量系统作出的,其特征在于:包括以下步骤:使视觉检测装置(1)与建筑物(3)的待检测点对应;

使标靶(2)与远离建筑物(3)的任一基准点对应,在标靶(2)上预设多个特征点,得到标靶(2)的各特征点之间的距离;

视觉检测装置(1)测量标靶(2)的各特征点的方位信息;

根据标靶(2)的各特征点之间的距离和标靶(2)的各特征点的方位信息,得到标靶(2)相对于视觉检测装置(1)的第一位姿;

得到视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第一位姿。

6.根据权利要求5所述的一种建筑物尺寸测量方法,其特征在于:所述得到视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第一位姿的步骤后,还包括以下步骤:移动视觉检测装置(1),使视觉检测装置(1)与建筑物(3)的其他待检测点对应;

视觉检测装置(1)再次测量标靶(2)的各特征点的方位信息;

根据标靶(2)的各特征点之间的距离和再次测量到的标靶(2)的各特征点的方位信息,得到标靶(2)相对于视觉检测装置(1)的第二位姿;

得到视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第二位姿;

根据视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第一位姿和视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第二位姿,得到视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的平均位姿。

7.根据权利要求5所述的一种建筑物尺寸测量方法,其特征在于:所述使标靶(2)与远离建筑物(3)的任一基准点对应的步骤中,还包括以下步骤:调整标靶(2)的位置,使标靶(2)的底面与水平面平行。

8.根据权利要求7所述的一种建筑物尺寸测量方法,其特征在于:所述根据标靶(2)的各特征点之间的距离和标靶(2)的各特征点的方位信息,得到标靶(2)相对于视觉检测装置(1)的第一位姿的步骤包括:根据标靶(2)的各特征点之间的距离和标靶(2)的各特征点的方位信息,计算各特征点的坐标;

根据各特征点的坐标,得到标靶(2)的体心的坐标;

根据标靶(2)的体心的坐标,得到标靶(2)绕指定轴的旋转角度;

根据标靶(2)的体心的坐标和标靶(2)绕指定轴的旋转角度,得到标靶(2)相对于视觉检测装置(1)的第一位姿。

9.根据权利要求5或6所述的一种建筑物尺寸测量方法,其特征在于:所述标靶(2)设置有多个,多个所述标靶(2)分散设置,多个所述标靶(2)分别设置在远离建筑物(3)的多个基准点上;所述得到视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第一位姿的步骤后,还包括以下步骤:得到各标靶(2)之间的位置信息;

在其他标靶(2)上预设多个特征点,得到其他标靶(2)的各特征点之间的距离;

视觉检测装置(1)测量其他标靶(2)的各特征点的方位信息;

根据其他标靶(2)的各特征点之间的距离和标靶(2)的各特征点的方位信息,得到其他标靶(2)相对于视觉检测装置(1)的第一位姿;

得到视觉检测装置(1)相对于其他标靶(2)的第一位姿;

根据视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第一位姿、视觉检测装置(1)相对于其他标靶(2)的第一位姿和各标靶(2)之间的位置信息,得到视觉检测装置(1)相对于所有标靶(2)的平均第一位姿。

10.根据权利要求9所述的一种建筑物尺寸测量方法,其特征在于:所述得到视觉检测装置(1)相对于所有标靶(2)的平均第一位姿的步骤后,还包括以下步骤:采用最小二乘法对视觉检测装置(1)相对于所有标靶(2)的平均第一位姿进行误差修正。