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专利号: 2020101557484
申请人: 安徽大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-09-30
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.一种光源模式测量仪,其特征在于:包括光源(1)或者光源适配器(601),用于反射各发光模式光线的柱面镜(2),光电探测器(PD)(3);光源(1)发出的某一适当角度的光线,对应于某种发光的横模模式,经过柱面镜(2)反射后,被汇聚反射进光电探测器(PD)(3),沿着柱面镜(2)轴线方向移动光电探测器(PD)(3),即可依次记录光电探测器(PD)(3)的光电信号值,便可依次得到光源不同角度的光强模式分布。

2.根据权利要求1所述的一种光源模式测量仪,其特征在于:在光源发光模式丰富的情况下,选择LED光源时,为消除多径效应的影响,光线经过2次反射后与经过1次反射后光线同时被光电探测器(PD)(3)检测而造成的测试结果错误,将柱面镜(2)替换为可以随光电探测器移动的小长度尺寸的环形模式选择镜(21)。

3.根据权利要求1所述的一种光源模式测量仪,其特征在于:在光源(1)模式不是特别丰富且光源光功率较强的情况下,选择LD光源、光纤端面输出光源时,为了增强光电探测器(PD)(3)的适应能力和器件的通用互换性,将光电探测器(PD)(3)的感光面反向而采取背向放置,并增加全反射镜(4),将由环形模式选择镜(21)反射选择的不同模式的光线从背离光源的方向反向入射至光电探测器(PD)(3)的感光面,以避免光源的强光小角度直射光电探测器(PD)(3)造成光电探测器(PD)(3)容易达到光功率检测饱和上限,同时减小0级模式光线(即光源(1)不经环形模式选择镜2反射而直接直射进入光电探测器(PD)(3)的光线)对其他模式光线的测试准确度影响,或者,在增加全反射镜(4)的同时,将光电探测器(PD)(3)直接改用双面光电探测器(PD)可以同时用背面检测经环形模式选择镜(21)反射的各种模式的光线和用光电探测器(PD)正面检测光源(1)直射至光电探测器(PD)的0级模式光线光功率。

4.根据权利要求1所述的一种光源模式测量仪,其特征在于:在光源(1)出射角比较小即模式不是非常丰富的情况下,为了减少光路长度即实际表现为减少模式测量仪的长度尺寸,同时增加测试灵敏度,可以增加扩束凹透镜(5)用以增加各模式的发散角度。

5.根据权利要求1所述的一种光源模式测量仪,其特征在于:光源(1)与光源适配器(601)适配,该光源适配器(601)可进行更换适用于FC、SC、ST、LC多种常见的跳线头类型,也可直接使用裸纤插芯或LD、LED光源。