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专利号: 2019206420442
申请人: 泰州学院
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-10-29
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种组合式孔位置度检具,其特征在于:包括检具基体、若干个活动检测块和基准定位孔检测销;所述检具基体是长方体的,中间设有正方体凹槽;所述凹槽的底面上设置有若干条纵横交叉的刻度线,将所述凹槽的底面分割成若干个正方形;所述刻度线与所述凹槽的边平行;所述基准定位孔检测销位于所述凹槽的中心;若干个所述活动检测块放置在所述凹槽内。

2.根据权利要求1所述一种组合式孔位置度检具,其特征在于:所述凹槽的底面上的正方形的边长为1cm;所述凹槽底部的中间的两条垂直的刻度线上刻有刻度,将每一个正方形的变成分成10mm。

3.根据权利要求1所述一种组合式孔位置度检具,其特征在于:所述基准定位孔检测销包括柱体和销体;所述销体固定在所述柱体的上面,与所述柱体同轴;所述基准定位孔检测销焊接固定在所述凹槽的底面上。

4.根据权利要求1所述一种组合式孔位置度检具,其特征在于:每一个所述活动检测块都包括检测销和磁力开关;所述磁力开关是正方体的,所述检测销焊接固定在所述磁力开关的上表面,位于上表面的中心。

5.根据权利要求4所述一种组合式孔位置度检具,其特征在于:所述磁力开关的四个侧面都分别设有定位标记;所述定位标记垂直于侧面的底边,位于底边的正中间。

6.根据权利要求4所述一种组合式孔位置度检具,其特征在:每一个所述磁力开关的棱长都为2cm。