1.一种基于压电陶瓷的透射式增强型相位显微成像测量系统。其特征是：它由激光光源1、光衰减片2、激光扩束镜3、压电陶瓷4、F-P干涉仪5、显微物镜6、探测相机7、计算机8组成。本发明可用于微小物体的数字全息和折射率测量，可广泛用于各种微小物体内部的折射率三维显微成像领域。所述系统中，激光光源1发出的光经由光衰减片2，再通过激光扩束镜3扩束后进入到F-P干涉仪5中，通过压电陶瓷4调节F-P干涉仪的腔长，来控制光束在F-P干涉仪中传播得到的相位差，从而得到相位差不同的干涉图，提高系统的时间稳定性，实现相干噪声的降低。

2.根据权利要求1所述的显微成像测量系统，其特征是：所使用的光路系统中的F-P干涉仪作为产生光程差的器件，通过光在F-P腔中的多次反射，每次经过待测微粒可以增加光程差，从而显著增大干涉条纹的锐利度，达到了提高分辨率的目的。

3.根据权利要求1所述的显微成像测量系统，其特征是：由压电陶瓷得到的不同相位差，对多张条纹图进行分析，可以实现相干噪声的降低。

4.根据权利要求2所述的F-P干涉仪。其特征是：所述的F-P干涉仪，腔体长度由压电陶瓷改变，待测物体置于腔体中，通过多次反射得到分辨率更高的干涉条纹。