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专利号: 2019110762199
申请人: 重庆邮电大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-12-30
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.多尺度图像块匹配的快速复制粘贴篡改检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)将输入图像进行下采样处理,得到三个尺度的图像,即小尺度图像,中尺度图像和大尺度图像;

2)采用Patch‑Match对小尺度图像进行预定位处理;

3)对中尺度图像和大尺度图像进行多尺度Patch‑Match处理,获得可疑的篡改区域;所述多尺度Patch‑Match处理包括以下步骤:S31只初始化未出现在先前尺度图像中的像素;

S32计算反射偏移量,定义为:

其中,θ是偏移量O(a1)和O(a2)之间的夹角,ReO(a1)是反射偏移量,表示O(a1)与O(a2)之间的相似度;

S33在特征匹配中,使用反射偏移量和偏移量来共同定位复制粘贴篡改区域,反射偏移量用于引导传播最佳偏移量来进行特征匹配;

S34通过将已知的偏移量传播到邻域,来更新其最佳偏移;

4)应用后处理定位最终的篡改区域。

2.根据权利要求1所述多尺度图像块匹配的快速复制粘贴篡改检测方法,其特征在于:所述下采样处理包括通过最大池化对输入图像进行二次下采样。

3.根据权利要求1所述多尺度图像块匹配的快速复制粘贴篡改检测方法,其特征在于:所述步骤2)中的预定位处理包括以下步骤:

2 2

S21在初始化中,偏移量是随机初始化的,定义ANNF为关于偏移量的函数O(an)→R ,R为偏移量,其涉及图像I中的所有可能的块坐标;给定图像中的块坐标a1(x,y)及其在同一图像中对应的最近邻域坐标a2(x,y),像素a1当前偏移量O(a1),由下式给出:O(a1)=a2(x,y)‑a1(x,y)S22搜索每个像素的所有邻域,通过与邻域进行比较来传播最佳偏移量,像素an的当前偏移为O(an),通过邻域z来更新当前偏移量,通过下式更新像素的当前偏移量:O(an')=arg min D(O(an),O(z))其中z∈{(x±1,y),(x,y±1)},D(*)表示图像块的欧式距离,x,y分别表示分别图像块的横坐标和纵坐标。

4.根据权利要求1所述多尺度图像块匹配的快速复制粘贴篡改检测方法,其特征在于:所述S33中的特征匹配,使用反射偏移量来确定像素an的当前最佳偏移量,定义为:CurrentO(an)=arg min{ReO(a1),ReO(a2)}其中,CurrentO(an)表示an的当前最佳偏移量,ReO(a1),ReO(a2)分别表示a1,a2的反射偏移量。

5.根据权利要求3或4所述多尺度图像块匹配的快速复制粘贴篡改检测方法,其特征在于:在每次传播偏移量之后都进行随机搜索,通过下式选择新的候选邻域:i‑1

Oi=O(an)+2 Ri

i‑1

其中,Ri是一个随机数,Ri∈[‑1,1]×[‑1,1],2 小于图像长度和宽度中的最大值;i=

1,2,...L;Oi表示最终的最佳偏移量。