1.一种成像分析方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1：搭建成像系统；所述成像系统包括：光源调制模块、偏振控制器一(PC1)、偏振控制器二(PC2)、偏振控制器三(PC3)、偏振控制器四(PC4)、准直透镜三(L3)、准直透镜四(L4)、准直透镜五(L5)、聚焦透镜一(L6)、聚焦透镜二(FL)、参照反射镜(M3)、扫描振镜(GM)、光栅(Grating)和线阵CCD；所述偏振控制器一(PC1)、偏振控制器二(PC2)、偏振控制器三(PC3)、偏振控制器四(PC4)用于控制光纤耦合器二(FC2)四条光路的偏振态，增加线阵CCD上采集到的干涉条纹对比度；具体的，所述偏振控制器一(PC1)用于控制经动镜模块和静镜模块反射的反射光的偏振态，该偏振控制器一(PC1)设置在光纤耦合器二(FC2)用于接收经动镜模块和静镜模块反射的反射光的臂上；所述偏振控制器二(PC2)设置在光纤耦合器二(FC2)与准直透镜四(L4)之间；所述偏振控制器三(PC3)设置在光纤耦合器二(FC2)与准直透镜三(L3)之间；所述偏振控制器四(PC4)设置在光纤耦合器二(FC2)与准直透镜五(L5)之间；

S2：由所述光源调制模块产生的光源入射后分为两路，一路经过准直透镜三(L3)准直后经扫描振镜(GM)反射和聚焦透镜一(L6)聚焦后照在样品上；另一路经准直透镜四(L4)准直后入射至参考反射镜(M3)上；

S2：获取样品的背向散射光和参考反射镜的反射光；

S3：将S2获取到的光通过准直透镜五(L5)准直后经过光栅(Grating)衍射，得到不同波长的衍射光；

S4：衍射光经聚焦透镜二(FL)聚焦后由线阵CCD采集输入至计算机，得到干涉光谱信号；

S5：对干涉光谱信息进行处理，得到样品的深度结构信息；

其中，所述光源调制模块包括：光纤耦合器一(FC1)、动镜模块、静镜模块和光纤耦合器二(FC2)；所述光纤耦合器一(FC1)对普通光源进行耦合后分别入射至动镜模块和静镜模块，经动镜模块和静镜模块反射的反射光送入所述光纤耦合器二(FC2)进行耦合得到干涉信号，该干涉信号作为成像系统的光源入射至成像系统；所述动镜模块包括依次设置的准直透镜一(L1)、平面反射镜一(M1)和驱动所述平面反射镜一(M1)进行移动的电机；所述静镜模块包括依次设置的准直透镜二(L2)和平面反射镜二(M2)；

所述S5具体包括以下步骤：

对干涉光谱信号沿横向扫描方向得到重构复数域的干涉光谱信号；

对复数域的干涉光谱信号沿纵向扫描方法进行傅里叶变换，重构样品的纵向信息。

2.根据权利要求1所述的一种成像分析方法，其特征在于：对于光源调制模块，通过调节动镜的轴向位移速度，完成对光源的频率调制，调制频率＝2*轴向速度*横向扫描间隔。

3.根据权利要求1所述的一种成像分析方法，其特征在于：所述得到重构复数域的干涉光谱信号的步骤具体采用：对干涉光谱信号沿横向扫描方向进行希尔伯特变换，得到重构复数域的干涉光谱信号。