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专利号: 2019100247825
申请人: 王久钰
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-10-29
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.基于测量电阻的数量测量方法,其特征在于,所述方法基于一种测量电阻的装置实现,所述测量电阻的装置包括一个形状为矩形的框架,框架采用绝缘材料制成,构成框架的四个侧板具有相同的高度,在其中两个相对的侧板内表面设有导电涂层,这两个导电涂层命名为a涂层和b涂层,所述基于测量电阻的数量测量方法,包括以下步骤:

第一步,把框架放置到置物板上,

第二步,往框架内倒入导电填充物,填充入凹槽,并且使导电填充物和框架持平,第三步,测量a涂层和b涂层之间的电阻,然后,由该电阻阻值获得凹槽数量。