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专利号: 2018214605696
申请人: 苏州朗博校准检测有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2026-10-22
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种位移传感器校准装置,包括底板(1)、校准器本体(2)、保护罩(8)、光栅(9)和插接柱(11),其特征在于:所述底板(1)上表面前后两端均开设有第一轨道(13),所述校准器本体(2)下表面的前后两端分别滑动安装在两个第一轨道(13)内,所述校准器本体(2)上表面固定有触摸屏(4),所述校准器本体(2)上开设有限位槽(15),所述限位槽(15)内插接有固定杆(7),所述固定杆(7)底端固定在底板(1),所述底板(1)上表面中间开设有第二轨道(14),所述光栅(9)滑动安装在第二轨道(14)内,所述光栅(9)下方的底板(1)内部开设有插接槽(12),所述插接槽(12)一端固定有磁铁(17),所述磁铁(17)吸附固定有铁环(18),所述铁环(18)背离磁铁(17)的一侧与插接柱(11)的一端固定连接,且插接柱(11)位于插接槽(12)内,所述插接柱(11)另一端穿过底板(1)侧面固定有连接块(10),所述连接块(10)一侧上方与保护罩(8)固定连接,所述保护罩(8)套在光栅(9)外部。

2.根据权利要求1所述的一种位移传感器校准装置,其特征在于:所述校准器本体(2)正面一侧嵌入安装有插座(3),所述插座(3)一侧的校准器本体(2)上固定有启动按钮(5)和停止按钮(6)。

3.根据权利要求1所述的一种位移传感器校准装置,其特征在于:所述固定杆(7)直径与限位槽(15)宽度相一致。

4.根据权利要求1所述的一种位移传感器校准装置,其特征在于:所述光栅(9)分成主光栅和副光栅,副光栅靠近校准器本体(2)。

5.根据权利要求1所述的一种位移传感器校准装置,其特征在于:所述保护罩(8)与校准器本体(2)相对一侧开设有方形孔(16),光栅(9)可通过方形孔(16)。

6.根据权利要求1所述的一种位移传感器校准装置,其特征在于:所述铁环(18)直径与插接槽(12)直径相一致。