1.一种细胞阵列优化设计指导方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：将在细胞重用策略下的细胞阵列行内修复次数a、阵列可靠性模型MTTF和平均重构时间与单细胞移除策略下的值进行对比，得到对应的细胞阵列修复次数提升度Pa、可靠性提升度PM和平均重构时间提升度PT指标，所述平均重构时间表示行内修复一次故障所需的重构时间；

S2：绘制细胞阵列的Pa，PM，PT曲线，定义修复次数提升度Pa高于平均重构时间提升度PT的区间为修复能力提升区，定义可靠性提升度PM高于平均重构时间提升度PT的区间为可靠性提升区；

S3：将修复能力提升区和可靠性提升区作为可靠性模型优化设计的量化指标；

S4：通过分析不同阵列规模和不同工作细胞比例对细胞阵列的修复能力提升区和可靠性提升区的影响，并以此作为依据对不同空间环境下的胚胎电子细胞布局提出优化设计指导；

S5：根据实际工况，确定瞬时故障比例参数，根据可靠性模型的分析结果，以最大修复次数和最少时间消耗为标准，确定最优的细胞阵列规模和工作细胞比例，实现优化设计指导；

所述可靠性模型包括行可靠度模型、阵列可靠度模型和阵列可靠性模型；

所述行可靠度模型，表示为：

式中，f0(M,k,δ)表示细胞阵列行内修复次数，a＝f0(M,k,δ)，k为行内工作细胞占比，k＝m/M，M为初始行内细胞总数，δ为瞬时故障比例参数，表示胚胎阵列中任一细胞发生故障时其故障类型为瞬时故障的概率，m为初始行内工作细胞数，λ为细胞失效率；

所述阵列可靠度模型，表示为：

式中，n为工作细胞行数，阵列总细胞行数为N；

所述阵列可靠性模型，表示为：

2.根据权利要求1所述的一种细胞阵列优化设计指导方法，其特征在于：所述

所述

所述 其中，tclk为系统重构时钟；TW表示平均重构时间，TW＝h1(M,k,δ)·tclk表示TW的影响因素和计算方法。

3.根据权利要求1所述的一种细胞阵列优化设计指导方法，其特征在于：所述细胞阵列行内可修复次数a的计算方法为：在细胞行内，随机确定故障细胞位置，同时按瞬时故障比例参数确定细胞类型，若该细胞右端有瞬时故障细胞或空闲细胞，则行内可修复次数a加1，直至随机产生的故障细胞右方全为工作细胞或永久故障细胞为止。