1.一种TR组件幅相特性快速微波测试系统，其特征在于：采用变频器将TR组件的射频信号频率降低到中频，幅度检波和相位检波均在中频完成；包括：(1)TR组件指令控制系统，它的作用是供电、同步脉冲输入以及控制TR工作状态；

(2)矩阵开关系统，将多个待测TR组件的射频端口缩减至两个端口与测试电路连接；

(3)变频、中频检波以及采样电路，用于完成射频信号的幅度和相位检测；

(4)上位机和以太网通信控制系统，上位机控制系统工作以及数据检测和测试报表的生成，以太网通信用于自动化测试系统各个模块间指令和数据的传输。

2.根据权利要求1所述的TR组件幅相特性快速微波测试系统，其特征在于：所述的TR组件指令控制系统包括指令控制器，对应一个TR组件的一组指令控制器产生收发开关切换信号(T/R)、同步发射信号(PTT)以及多位衰减器控制电平(A0～A5)和多位移相器控制电平(F0～F5)。

3.根据权利要求1所述的TR组件幅相特性快速微波测试系统，其特征在于：所述的矩阵开关系统实现信号路径的切换，将信号路径建立在测试仪器和测试点之间。

4.根据权利要求3所述的TR组件幅相特性快速微波测试系统，其特征在于：所述的矩阵开关系统由至少两个单刀四掷开关(SP4T)和单刀双掷开关(SPDT)组合，实现多选一开关组合。

5.根据权利要求1所述的TR组件幅相特性快速微波测试系统，其特征在于：所述的变频电路将射频频率信号下变频至70MHz的中频频率信号的下频器和将70MHz中频频率信号上变频到射频频率的上变频器。