1.一种上电复位时间的测量方法，其特征在于，包括：检测待测芯片的电源脚电压，将所述电源脚电压达到预设电压的时间点，记为第一时间点；

检测所述待测芯片的预设管脚的输出信号，将所述预设管脚在所述待测芯片上电后第一次完成脉冲输出的时间点，记为第二时间点，并将所述预设管脚在所述待测芯片上电后第二次完成脉冲输出的时间点，记为第三时间点；其中，第一次输出的脉冲与第二次输出的脉冲的宽度相同；

根据所述第一时间点、所述第二时间点和所述第三时间点，计算得到所述待测芯片的上电复位时间；

其中，所述根据所述第一时间点、所述第二时间点和所述第三时间点，计算得到所述待测芯片的上电复位时间，具体包括：根据公式T(P)＝(T2-T1)-(T3-T2)，计算所述待测芯片的上电复位时间；

其中，T(P)为待测芯片的上电复位时间，T1为第一时间点，T2为第二时间点，T3为第三时间点。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：在计算得到所述待测芯片的上电复位时间后，根据上电复位电路的复位触发时间，对所述上电复位时间进行修正。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述上电复位电路的复位触发时间为预设值。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：在所述检测待测芯片的电源脚电压的过程中，将所述电源脚电压从无到有的时间点，记为第四时间点；

所述根据上电复位电路的复位触发时间，对所述上电复位时间进行修正，具体包括：计算所述第一时间点和所述第四时间点的时间差；

将计算的所述时间差作为上电复位电路的复位触发时间，对所述上电复位时间进行修正。

5.一种上电复位时间的测量系统，其特征在于，包括：检测装置与计算装置；

所述检测装置用于检测待测芯片的电源脚电压，将所述电源脚电压达到预设电压的时间点，记为第一时间点；

所述检测装置还用于检测所述待测芯片的预设管脚的输出信号，将所述预设管脚在所述待测芯片上电后第一次完成脉冲输出的时间点，记为第二时间点，并将所述预设管脚在所述待测芯片上电后第二次完成脉冲输出的时间点，记为第三时间点；其中，第一次输出的脉冲与第二次输出的脉冲的宽度相同；

所述计算装置用于根据所述第一时间点、所述第二时间点和所述第三时间点，计算得到所述待测芯片的上电复位时间；

其中，所述计算装置根据公式T(P)＝(T2-T1)-(T3-T2)，计算所述待测芯片的上电复位时间；

其中，T(P)为待测芯片的上电复位时间，T1为第一时间点，T2为第二时间点，T3为第三时间点。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，还包括：所述计算装置还用于在计算得到所述待测芯片的上电复位时间后，根据上电复位电路的复位触发时间，对所述上电复位时间进行修正。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述上电复位电路的复位触发时间为预设值。

8.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述检测装置还用于在检测待测芯片的电源脚电压的过程中，将所述电源脚电压从无到有的时间点，记为第四时间点；

所述计算装置具体用于计算所述第一时间点和所述第四时间点的时间差，并将计算的所述时间差作为上电复位电路的复位触发时间，对所述上电复位时间进行修正。

9.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述检测装置为示波器或者逻辑分析仪。

10.一种上电复位时间的测量系统，其特征在于，包括：至少一处理器以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如权利要求1至4中任一项所述的上电复位时间的测量方法。