1.一种膜厚控制系统，其包括挤出单元、冷却成型单元、拉伸单元、测厚单元、监测控制单元和收卷单元，所述挤出单元包括挤出机和模头，所述拉伸单元包括纵拉模块和横拉模块，所述测厚单元包括第一测厚仪及第二测厚仪，薄膜原料熔体从挤出机挤出后经冷却成型单元固化为铸片，铸片经拉伸单元拉伸为宽卷薄膜后由收卷单元收存为母卷，所述第一测厚仪及第二测厚仪分别位于拉伸单元两端对所述铸片和宽卷薄膜进行厚度监测，其特征在于：所述冷却成型单元包括一个刻印模块，所述监测控制单元包括数显设备、膜厚图像拾取模块、图像处理模块、控制模块、模头调节器和变频器，所述第一测厚仪及第二测厚仪均将厚度信息生成为薄膜剖面图像后将该图像传送给数显设备并经膜厚图像拾取模块转送到图像处理模块，所述控制模块接收图像处理模块输出的膜厚数据后分别通过变频器和模头调节器控制挤出机转速和模头的开度。

2.根据权利要求1所述的一种膜厚控制系统，其特征在于：所述薄膜剖面图像资料包括分别以不同颜色表示的一条膜厚曲线、坐标轴和与坐标轴平行的辅助线，以及用以标示所述膜厚曲线基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值的字符；所述图像处理模块输出的膜厚数据为标记有模头螺栓位置的薄膜剖面厚度值集合。

3.根据权利要求1所述的一种膜厚控制系统，其特征在于：所述冷却成型单元包括激冷辊和主气刀，所述刻印单元设置在用来将薄膜原料熔体贴在激冷辊上的主气刀的前方，该刻印单元包括两个其刻印头分别与模头两端部螺栓位置相固定连接的刻印模块；所述刻印单元采用激光刻蚀模块或与主气刀相匹配的辅助气刀模块，且该刻印单元在铸片上形成V形或U形缺口印记。

4.根据权利要求1所述的一种膜厚控制系统，其特征在于：所述冷却成型单元包括激冷辊和主气刀，所述刻印单元设置在用来将薄膜原料熔体贴在激冷辊上的主气刀的前方，该刻印单元包括一个与模头唇口平行的导轨以及一个刻印模块，所述刻印模块包括一个可沿所述导轨移动的刻印头，所述导轨上有多个与模头螺栓有固定位置关系的停靠点；所述刻印单元采用激光刻蚀模块或与主气刀相匹配的辅助气刀模块，且该刻印单元在铸片上形成V形或U形缺口印记。

5.根据权利要求1所述的一种膜厚控制系统，其特征在于：所述数显设备包括显示器和VGA信号分配器，所述VGA信号分配器从测厚仪接收VGA信号并将信号分配给显示器和所述膜厚图像拾取模块。

6.根据权利要求1所述的一种膜厚控制系统，其特征在于：所述控制模块包括控制器1和控制器2，所述控制器2通过模头调节器以占空比的方式来控制模头螺栓固态继电器的通断，从而通过控制螺栓的温度来调节该螺栓所在模头段的开度，以实现该螺栓所对应薄膜区段的厚度调节；所述控制器1以调节变频器的方式来控制挤出机的转速，从而通过控制挤出量来实现薄膜整体平均厚度的调节。

7.一种薄膜剖面图像的字符提取方法，所处理的图像是以薄膜测厚仪输出并能显示在一显示器上的用以显示被检测薄膜的横向剖面厚度的图像，所述图像包括分别以不同颜色表示的一条膜厚曲线、坐标轴和与坐标轴平行的辅助线，以及用以标示所述膜厚曲线基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值的字符，其特征在于，包括如下步骤：a1)检测并确保所述薄膜剖面图像为目标图像；预处理，根据所述薄膜剖面图像中的颜色特征及区域特征获取含有目标字符的第一ROI区域；

a2)根据第一ROI区域内可能出现的字符分析构建字符的二值化特征模板库；

a3)针对所获取的第一ROI区域，检测分离出单个字符，对每个字符进行特征提取后进行模板匹配，识别出单个字符；

a4)将相邻单字符进行组合，对组合出的词组进行辨识，获取所述图像中原膜厚曲线的基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值。

8.一种薄膜剖面图像的膜厚采集方法，所处理的图像是以薄膜测厚仪输出并能显示在一显示器上的用以显示被检测薄膜的横向剖面厚度的图像，所述图像包括分别以不同颜色表示的一条膜厚曲线、坐标轴和与坐标轴平行的辅助线，以及用以标示所述膜厚曲线基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值的字符，其特征在于，包括如下步骤：b1)检测并确保所述薄膜剖面图像为目标图像；预处理，根据所述薄膜剖面图像中的颜色特征及区域特征获取含有目标原始膜厚曲线的第二ROI区域；

b2)对第二ROI区域的目标图像进行灰度化和滤波处理；

b3)根据颜色分量和坐标特征获取非连续膜厚曲线图像g1和辅助点阵图像g2；

b4)对两幅图像g1和g2，分别进行Otsu阈值分割和双阈值分割后得到二值化图像g1′和g2′；

b5)将g1′和g2′二者相合并生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线图像g；

b6)基于所获取的薄膜剖面图像中的基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值，对所生成膜厚曲线上每个点，将其在图像中的像素坐标变换为所对应的厚度值。