1.一种X射线光栅相衬成像自动校准系统，其特征在于，该系统包括计算机、与所述计算机电性连接的COM模块，与所述COM模块分别电性连接的运动控制模块及图像传输模块，所述运动控制模块分别与X光源及位于同一光路中心的源光栅、分束光栅、样品台、分析光栅、探测器电性连接，所述图像传输模块与探测器电性连接，所述计算机包括分析模块及判断模块，其中：所述运动控制模块用于移动样品台，使样品台不在光路上；

所述图像传输模块用于当X光源发出的X光在探测器上形成条纹图像时，将所述条纹图像通过COM模块传输到分析模块；

所述分析模块用于分析得到所述条纹图像的参数；

所述判断模块用于判断所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数是否匹配，所述第一标准图像指：没有样品时，样品台处于合适位置，在探测仪上留下的图像；

所述运动控制模块还用于当所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数匹配成功时，将样品台移回光路，并在所述样品台上放置样品；

所述图像传输模块还用于当X光源发出的X光在探测器上形成阴影图像时，将所述阴影图像通过COM模块传输到分析模块；

所述分析模块还用于分析得到所述阴影图像的参数；

所述判断模块还用于判断所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数是否匹配，如果所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数匹配成功，则完成自动校准，所述第二标准图像是指：放置样品后，样品台处于合适位置，在探测仪上留下的阴影图像。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述判断模块还用于：当所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数匹配不成功时，计算分束光栅、分析光栅的运动量；及当所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数匹配不成功时，计算分束光栅、分析光栅的运动量。

3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述运动控制模块还用于：根据计算的运动量对光路中的元件位置进行调整。

4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，判断所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数匹配的匹配标准为：如果上述条纹图像每个参数与标准图像对应参数的误差在10％以内，则匹配成功。

5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，判断所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数匹配标准为：如果上述阴影图像每个参数与标准图像对应参数的误差在10％以内并位于视野的中央，且所述阴影图像的大小在视野面积的40％-80％范围内，则匹配成功。

6.一种X射线光栅相衬成像自动校准方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：a.移动样品台，使样品台不在光路上；

b.X光源发出的X光依次通过位于同一光路中心的源光栅、分束光栅、分析光栅在探测器上形成条纹图像；

c.分析得到所述条纹图像的参数；

d.将分析得到的所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数比对，并判断所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数是否匹配，所述第一标准图像是指：没有样品时，样品台处于合适位置，在探测仪上留下的图像；

e.如果所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数匹配成功，则将样品台移动回到光路，并在所述样品台上放置样品；

f.X光源发出的X光依次通过位于同一光路中心的源光栅、分束光栅、样品台、分析光栅，在探测器上形成阴影图像；

g.分析得到所述阴影图像的参数；

h.将分析得到的所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数比对，并判断所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数是否匹配，所述第二标准图像是指：放置样品后，样品台处于合适位置，在探测仪上留下的阴影图像；

i.如果所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数匹配成功，则完成自动校准。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，该方法还包括步骤：当所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数匹配不成功时，计算分束光栅、分析光栅的运动量，并根据计算的运动量对光路中的元件位置进行调整，返回步骤b。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该方法还包括：当所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数匹配不成功时，计算分束光栅、分析光栅的运动量，并根据计算的运动量对光路中的元件位置进行调整，返回步骤f。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，步骤d中判断所述条纹图像的参数与第一标准图像的参数匹配的匹配标准为：如果上述条纹图像每个参数与标准图像对应参数的误差在10％以内，则匹配成功。

10.如权利要求4所述的方法，其特征在于，步骤h中判断所述阴影图像的参数与第二标准图像的参数匹配标准为：如果上述阴影图像每个参数与标准图像对应参数的误差在10％以内并位于视野的中央，且所述阴影图像的大小在视野面积的40％-80％范围内，则匹配成功。