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专利号: 2017101593898
申请人: 苏州半唐电子有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-05-07
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种单电阻电流采样的移相补偿方法,其特征在于,所述的方法包括如下步骤:S10)、根据Ta、Tb和Tc确定T1和T2,其中,T1为第一采样点配合时间,T2为第二采样点配合时间,Ta为a、b、c三相PWM信号中占空比最大相对应的占空比时间,Tb为a、b、c三相PWM信号中占空比中间相对应的占空比时间,Tc为a、b、c三相PWM信号中占空比最小相对应的占空比时间;

S20)、判断T1+T2是否大于2*Tmin,如果是,执行步骤S31),如果不是,执行步骤S32),其中,Tmin为最小电流采样时间;

S31)、判断T1是否大于或等于Tmin,如果是,执行步骤S41),如果不是,对所述的占空比中间相进行移相补偿后执行步骤S41);

S32)、判断T1是否大于或等于Tmin,如果是,执行步骤S42),如果不是,对所述的占空比最大相进行移相补偿后执行步骤S42);

S41)、判断T2是否大于或等于Tmin,如果是,执行步骤S50),如果不是,对所述的占空比中间相进行移相补偿后执行步骤S50);

S42)、判断T2是否大于或等于Tmin,如果是,执行步骤S50),如果不是,对所述的占空比最小相进行移相补偿后执行步骤S50);

S50)、在所述的占空比最大相和所述的占空比中间相的同侧进行采样,完成单电阻电流采样。

2.如权利要求1所述的单电阻电流采样的移相补偿方法,其特征在于,在步骤S10)之前还包括步骤S00),所述的步骤S00)是指确定并输入Ta、Tb、Tc和Tmin的值。

3.如权利要求1所述的单电阻电流采样的移相补偿方法,其特征在于,T1=(Ta-Tb)/2,T2=(Tc-Tb)/2。

4.如权利要求1所述的单电阻电流采样的移相补偿方法,其特征在于,在所述的步骤S31)中,对所述的占空比中间相进行移相补偿是指所述的占空比中间相右移Tmin-T1。

5.如权利要求1所述的单电阻电流采样的移相补偿方法,其特征在于,在所述的步骤S32)中,对所述的占空比最大相进行移相补偿是指所述的占空比最大相左移Tmin-T1。

6.如权利要求1所述的单电阻电流采样的移相补偿方法,其特征在于,在所述的步骤S41)中,对所述的占空比中间相进行移相补偿是指所述的占空比中间相左移Tmin-T2。

7.如权利要求1所述的单电阻电流采样的移相补偿方法,其特征在于,在所述的步骤S42)中,对所述的占空比最小相进行移相补偿是指所述的占空比最小相右移Tmin-T2。