1.一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于它包括如下步骤：

1)在电化学体系中，工作电极表面贴有分离膜，工作电极和对电极均没入电解液中，测试该电化学体系的交流阻抗谱，即为分离膜的交流阻抗谱；

2)利用等效电路对步骤1)所得到的交流阻抗谱结果进行模拟计算，得到电解液中的离子通过分离膜孔洞的电阻R2；

3)计算分离膜水通量，分离膜水通量 其中ρ为电解液的电阻率，ΔP为分离膜两侧的压力差，η为电解液在分离膜孔洞中流动的粘度，R2为电解液中的离子通过分离膜孔洞的电阻。

2.一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于它包括如下步骤：

(1)在电化学体系中，工作电极表面贴有分离膜，工作电极和对电极均没入电解液中，测试该电化学体系的交流阻抗谱，即为分离膜的交流阻抗谱；

(2)利用等效电路对步骤(1)所得到的交流阻抗谱结果进行模拟计算，得到电解液中的离子通过分离膜孔洞的电阻R2；

(3)测量或计算分离膜的水通量Jv，以分离膜的水通量Jv为纵坐标，R2为横坐标，拟合两者的关系式 其中R2为电解液中的离子通过分离膜孔洞的电阻，K为斜率，电解液、膜材料、压力均相同时，K是常数；

(4)按照步骤(1)和(2)测定电解液中的离子通过待测分离膜孔洞的电阻R2，将R2代入步骤(3)所拟合的关系式，计算得到待测分离膜的水通量。

3.根据权利要求2所述的一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于所述步骤(3)中所拟合的关系式转化为lgJv＝A-BlgR2，其中A，B均为常数。

4.根据权利要求1或2所述的一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于所述分离膜选自超滤膜、微滤膜以及孔洞大于20nm的纳滤膜。

5.根据权利要求1或2所述的一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于所述分离膜的孔洞孔径在20nm～10μm之间，且两侧为导通状态。

6.根据权利要求1或2所述的一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于所述工作电极满足一侧导电另一侧绝缘，分离膜贴在工作电极导电一侧。

7.根据权利要求1或2所述的一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于所述对电极为惰性电极。

8.根据权利要求1或2所述的一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于所述电化学体系中还设置参比电极和/或地电极；所述测试分离膜的交流阻抗谱时采用电化学工作站。

9.根据权利要求1或2所述的一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于所述对电极与分离膜的间距为1～10cm。

10.根据权利要求1或2所述的一种无损检测分离膜水通量的方法，其特征在于所述等效电路为R1(CR2)W。