1.一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，所述一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，由主机箱体（1）、和处理显示器（18）组成，主机箱体（1）竖直朝前的一面有开口，箱体里面通过上下箱室隔板（5）将箱体内部分为下层箱室（2）和上层箱室（13）两层，并且都各自在箱体开口处安装有独立的下层透明门（17）和上层透明门（14）；下层箱室（2）安装有倒置荧光显微镜（3），倒置荧光显微镜（3）镜头上方对着观察窗（4）；观察窗（4）上方的上下箱室隔板（5）的上面，即在上层箱室（13）内的上下箱室隔板（5）一侧安装有样品台（6）；样品台（6）上固定放置检测芯片（15）；在样品台（6）正上方有全内反射光源及接收器（10）；在上层箱室（13）的里侧箱体壁上安装有竖轨（12），在竖轨（12）上还水平安装有横轨（9），横轨（9）与竖轨（12）十字交叉相互垂直；全内反射光源及接收器（10）通过竖轨（12）或横轨（9）固定；处理显示器（18）与主机箱体（1）内的倒置荧光显微镜（3）和全内反射光源及接收器（10）线路相连；其特征在于：在上层箱室（13）的里侧箱体壁上还加工安装有连体的加湿器（7）和风扇（8）；上层箱室（13）的里侧箱体壁有两层保温隔板（19），在两层保温隔板（19）之间是加热室（20），加热室（20）内安装有控制温度的电加热装置；在主机箱体（1）顶部加工安装有空气净化装置（11）与上层箱室（13）相通；

所述使用方法如下：

第一步，开启主机箱体（1）和处理显示器（18）电源；保持下层透明门（17）和上层透明门（14）都密闭关闭，开启风扇（8）、加热室（20）加热装置、空气净化装置（11），运转15min-

30min；

第二步，观察处理显示器（18）的温度和湿度到稳定要求后，打开上层透明门（14），将检测芯片（15）放在样品台（6）上，连接检测芯片（15）与各个导管的接口；依据检测芯片（15）上的检测区域位置，调整移动样品台（6）将检测区域位置调整到观察窗（4），固定；

第三步，开启全内反射光源及接收器（10）电源，将全内反射光源及接收器（10）在竖轨（12）上调整高度，使其在检测芯片（15）上发生全反射，固定全内反射光源及接收器（10），然后将横轨（9）调整到与全内反射光源及接收器（10）同一高度固定，在横轨（9）上，再左右调整全内反射光源及接收器（10），使其全反射在检测芯片（15）上的检测区域位置，最后固定全内反射光源及接收器（10），进行全内反射试样检测，处理显示器（18）控制测试参数和采集数据；

第四步，检测芯片（15）上有多个检测区域位置时，重复第三步操作；

第五步；关闭全内反射光源及接收器（10）电源，打开倒置荧光显微镜（3）电源，通过处理显示器（18）调整焦距，移动位置，使镜头对准检测芯片（15）上的检测区域，进行常规荧光检测，处理显示器（18）控制荧光参数和采集数据；如不需要常规荧光检测，直接从第三步或第四步到第六步；

第六步；先关闭全内反射光源及接收器（10）电源和倒置荧光显微镜（3）电源，取走检测芯片（15），依次关闭风扇（8）、加热室（20）加热装置、空气净化装置（11）的电源，取走加湿器

7中的水，最后关闭主机箱体（1）和处理显示器（18）电源。

2.根据权利要求1所述的一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，其特征在于：所述风扇（8）与加热室（20）相通；加热室（20）的上方通过空气过滤层（21）与空气净化装置（11）相通。

3.根据权利要求1所述的一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，其特征在于：所述主机箱体（1）是由保温材料加工的密闭箱体；所述下层透明门（17）和上层透明门（14）均是密闭保温门。

4.根据权利要求1所述的一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，其特征在于：所述主机箱体（1）是立方体形状，或圆柱体形状。