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专利号: 201610201527X
申请人: 哈尔滨工程大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-10-14
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种全光纤傅里叶光谱分析仪,包括待测光源(1)、连接器(2)、第一三端口光纤环行器(3)和第二三端口光纤环行器(4)、第一波分复用器(5)和第二波分复用器(6)、双端口连接的光纤耦合器(7)、差动式光程扫描装置(8)、窄带半导体激光器(9)、第一差分式光电探测信号放大器(10)和第二差分式光电探测信号放大器(11)、第一可调衰减器(12)和第二可调衰减器(13)以及第一信号处理单元(14)和第二信号处理单元(15),其特征在于:所述系统中待测光源(1)发出的光经由第一三端口光纤环行器后经由第一波分复用器(5)和双端口连接的光纤耦合器(7)被注入到差动式光程扫描装置(8),该光程扫描匹配装置产生两束问讯光信号,再次经过双端口连接的光纤耦合器(7)、第一波分复用器(5)、第二波分复用器(6)和第一三端口光纤环行器(3)被第二差分式光电探测信号放大器(11)所接收并放大,信号最后经由第二信号处理单元(15)处理给出测量结果;窄带半导体激光器(9)发出的光经由第二三端口光纤环行器(4)经由第一波分复用器(5)和双端口连接的光纤耦合器(7)被注入到同一个差动式光程扫描装置(8),再由光程扫描匹配装置产生两束问讯光信号,再次经过双端口连接的光纤耦合器(7)、第一波分复用器(5)、第二波分复用器(6)和第二三端口光纤环行器(4),形成均匀的干涉条纹,被第一差分式光电探测信号放大器(10)所接收并放大,该信号最后经由第一信号处理单元(14)处理得到干涉信号。

2.根据权利要求1所述的一种全光纤傅里叶光谱分析仪,其特征在于:差动式光程扫描装置(8)是由第一光纤自聚焦透镜准直器(8-1)、第二光纤自聚焦透镜准直器(8-2)和一个双端面全反射镜(8-3)组成,光纤自聚焦透镜准直器被固定在一个精密滑移台的基座上,双端面全反射镜(8-3)被固定在可以滑移的平台上,正对着光纤准直器,该光程扫描匹配装置通过移动光学反射镜来改变该两束光信号的光程差,实现对光源光程变化的匹配测量。

3.根据权利要求1所述的一种全光纤傅里叶光谱分析仪,其特征在于:将窄带激光光源与待测光源形成了共光路Michelson型干涉测量系统,可实现激光干涉信号对扫描光程的均匀校正。

4.根据权利要求1所述的一种全光纤傅里叶光谱分析仪,其特征在于:差分式光电探测信号放大器的一个输入端采用可调衰减器,实现对光路的平衡调整。