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专利号: 2015106232929
申请人: 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-11-14
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种终端指南针的校准方法,其特征在于,包括:

在对放置于校准机台夹具上的校准后的终端指南针施加第一磁场后,根据映射条件,对校准机台夹具的角度进行调整,得到角度调整后的所述校准机台夹具;

将待校准的终端指南针固定于角度调整后的所述校准机台夹具上;

对所述待校准的终端指南针依次施加平行于所述第一磁场的第二磁场和第三磁场;

预设所述第二磁场和所述第三磁场的磁场强度大小相等且方向相反,所述第二磁场包括正向的参考磁场和地磁场,所述第三磁场包括反向的所述参考磁场和所述地磁场;

预设X1、Y1和Z1依次对应于所述第一磁场在所述校准后的终端指南针的X轴的投影值、Y轴的投影值和Z轴的投影值,所述映射条件包括:所述X1、Y1和Z1的磁场强度大小相等,设所述X1、Y1和Z1磁场强度的大小为E;

确定所述第二磁场在所述待校准的终端指南针的X轴的投影值记作X2+C、Y轴的投影值记作Y2+C和Z轴的投影值记作Z2+C,所述C为所述地磁场在所述校准后的终端指南针的X轴的投影值、Y轴的投影值和Z轴的投影值;

确定所述第三磁场在所述待校准的终端指南针的X轴的投影值记作-X2-C、Y轴的投影值记作-Y2-C和Z轴的投影值记作-Z2-C;

根据所述第二磁场和所述第三磁场确定所述参考磁场在所述校准后的终端指南针的X轴的投影值为X2、Y轴的投影值为Y2和Z轴的投影值为Z2;

计算E-X2=ΔX2,E-Y2=ΔY2,E-Z2=ΔZ2;

判断所述ΔX2≥0,所述ΔY2≥0,和所述ΔZ2≥0是否同时成立;

在判定所述ΔX2≥0,所述ΔY2≥0,和所述ΔZ2≥0同时成立时,将所述待校准的终端指南针的X轴加上ΔX2作为补偿值;

将所述待校准的终端指南针的Y轴加上ΔY2作为补偿值,并将所述待校准的终端指南针的Z轴加上ΔZ2作为补偿值。

2.根据权利要求1所述的终端指南针的校准方法,其特征在于,还包括:在判定所述ΔX2≥0,所述ΔY2≥0,和所述ΔZ2≥0不同时成立时,确定所述待校准的终端指南针校准失败。

3.一种终端指南针的校准系统,其特征在于,包括:

调整单元,用于在对放置于校准机台夹具上的校准后的终端指南针施加第一磁场后,根据映射条件,对校准机台夹具的角度进行调整,得到角度调整后的所述校准机台夹具;

固定单元,用于将待校准的终端指南针固定于角度调整后的所述校准机台夹具上;

场控单元,用于对所述待校准的终端指南针依次施加平行于所述第一磁场的第二磁场和第三磁场;

所述场控单元还用于:预设所述第二磁场和所述第三磁场的磁场强度大小相等且方向相反,所述第二磁场包括正向的参考磁场和地磁场,所述第三磁场包括反向的所述参考磁场和所述地磁场;

所述调整单元还用于:预设X1、Y1和Z1依次对应于所述第一磁场在所述校准后的终端指南针的X轴的投影值、Y轴的投影值和Z轴的投影值,所述映射条件包括:所述X1、Y1和Z1的磁场强度大小相等,设所述X1、Y1和Z1磁场强度的大小为E;

所述校准系统还包括:

确定单元,用于确定所述第二磁场在所述待校准的终端指南针的X轴的投影值记作X2+C、Y轴的投影值记作Y2+C和Z轴的投影值记作Z2+C,所述C为所述地磁场在所述校准后的终端指南针的X轴的投影值、Y轴的投影值和Z轴的投影值;

所述确定单元还用于:确定所述第三磁场在所述待校准的终端指南针的X轴的投影值记作-X2-C、Y轴的投影值记作-Y2-C和Z轴的投影值记作-Z2-C;

所述确定单元还用于:根据所述第二磁场和所述第三磁场确定所述参考磁场在所述校准后的终端指南针的X轴的投影值为X2、Y轴的投影值为Y2和Z轴的投影值为Z2;

所述校准系统还包括:

计算单元,用于计算E-X2=ΔX2,E-Y2=ΔY2,E-Z2=ΔZ2;

判断单元,用于判断所述ΔX2≥0,所述ΔY2≥0,和所述ΔZ2≥0是否同时成立;

所述判断单元还用于:在判定所述ΔX2≥0,所述ΔY2≥0,和所述ΔZ2≥0同时成立时,将所述待校准的终端指南针的X轴加上ΔX2作为补偿值;

将所述待校准的终端指南针的Y轴加上ΔY2作为补偿值,并将所述待校准的终端指南针的Z轴加上ΔZ2作为补偿值。

4.根据权利要求2所述的终端指南针的校准系统,其特征在于,所述判断单元还用于:在判定所述ΔX2≥0,所述ΔY2≥0,和所述ΔZ2≥0不同时成立时,确定所述待校准的终端指南针校准失败。