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专利号: 201510243591X
申请人: 上海斐讯数据通信技术有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-06-27
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤S1、设置智能终端处于激活状态;

步骤S2、获取智能终端当前的RAM值和CPU值;

步骤S3、将获取的RAM值和CPU值进行排序;

步骤S4、依次打开智能终端上的所有APP后再关闭,对RAM值和CPU值进行监测;

步骤S5、当出现异常状况时,开启LOG抓取功能,自动记录测试状态。

2.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S1中包括以下步骤:

1)开启智能终端的Root权限,获取智能终端的参数;

2)设置智能终端处于不灭屏不屏保的激活状态。

3.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S2中,运用JAVA技术来获取智能终端的RAM值和CPU值。

4.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述RAM值和CPU值分别为RAM使用率参数和CPU使用率参数。

5.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S4时,采用全自动运行方式反复循环调用智能终端中每个APP,然后查看是否执行RAM释放的操作。

6.根据权利要求5所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:自动运行APP时,能够设定APP重复运行次数及单次运行时间。

7.根据权利要求5所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:自动运行APP时,按照APP的名称、类型或大小先后运行。

8.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S5中,所述异常状况包括智能终端死机、重启和界面异常。

9.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S5中,当智能终端的RAM值或CPU值大于80%时,则开启LOG抓取功能,自动记录测试状态。

10.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S3中,还能够实时显示智能终端运行时消耗最多RAM的程序和消耗最多CPU的程序。