1.一种数字X线成像系统的二维调制传递函数测量方法，包括：

步骤a：将刃边装置放置在探测器表面，调整刃边与探测器采样方向成初始角度θ0，设置曝光参数，在一定辐射质量下对刃边装置进行多次曝光；

步骤b：旋转刃边装置，调整刃边装置使刃边与探测器的角度均匀变化，对刃边装置进行曝光，每个位置曝光多次，获取多幅图像；

步骤c：对图像进行线性化处理，将二维调制传递函数的分析区域内的图像数据沿着刃边的方向进行投影得到亚像素数组，通过投影变换得到该方向的边缘响应函数；

步骤d：对得到的边缘响应函数ERF降噪处理，对ERF曲线进行拟合，处理后的ERF进行差分运算得到线扩散函数；

步骤e：对所述线扩散函数进行傅里叶变换并取模，利用零频率处MTF值进行归一化处理，得到刃边与探测器采样方向的夹角为θi时系统的归一化调制传递函数；

步骤f：对得到的所有方向的一维调制传递函数通过双线性差值进行曲面拟合得到系统的二维调制传递函数。

2.根据权利要求1所述的数字X线成像系统的二维调制传递函数测量方法，其特征在于，所述步骤a前进一步包括：构建刃边装置，所述刃边装置包括环形导轨、角度测量仪、铅板和钨板，且钨板的边缘经过抛光处理，所述铅板固定在环形导轨上，所述钨板固定在铅板中央切割出的矩形区域。

3.根据权利要求1或2所述的数字X线成像系统的二维调制传递函数测量方法，其特征在于，在所述步骤b中，调整刃边装置使刃边与探测器的角度在0和180之间均匀变化，刃边与探测器采样方向的夹角为θk，且满足(θkmod45)≠0对刃边装置进行曝光。

4.根据权利要求3所述的数字X线成像系统的二维调制传递函数测量方法，其特征在于，在所述步骤c中，所述对图像进行线性化处理步骤后还包括：通过线性拟合得到刃边与探测器采样方向的夹角θk'，比较θk和θk'的大小关系。

5.根据权利要求3所述的数字X线成像系统的二维调制传递函数测量方法，其特征在于，在所述步骤c中，所述通过投影变换得到该方向的边缘响应函数步骤包括：将二维调制传递函数的分析区域中的所有像素点(i,j)投影到s轴为：s(i,j)＝ipcosθk-jpsinθk，设采样间隔为Δs＝0.1p，采样公式为：其中：p为像素大小，i、j分别表示ROI区域的第i行和第j列，s(i,j)为像素(i,j)到刃边的距离，nm为到刃边的距离在(m-0.5)Δs和(m+0.5)Δs之间的像素个数；对落在同一间隔内的所有数据点的几何平均作为该间隔的数据，得到系统的过采样边缘响应函数ERF。