1. 一种电子产品测试夹具的自动对准方法，其特征在于，包括下列步骤：

(1)提供一与待测产品（29）匹配的校准板（8），在所述校准板（8）上对应于待测产品（29）测试点（30）的位置设置有横截面与测试点形状大小相同的凸起（11）；

(2)将所述校准板（8）移动到测试夹具的探针模块(10)的上方或下方，利用光学传感系统检测校准板上的凸起（11）与测试夹具的探针（9）的相对位置，调整校准板（8）相对于测试夹具的位置和方向，使所述凸起(11)对准探针(9)，获得校准板(8)的第一位置；

(3)移动所述校准板(8)至第二位置，由一位置测量系统测量并记录校准板上各凸起(11)的位置，然后移去校准板（8）；

(4)将待测产品(29)移至所述第二位置，用所述位置测量系统测量待测产品(29)上各测量点(30)的位置，并和记录的校准板上对应的凸起(11)的位置进行比较，获得平移和旋转的校正量，采用该校正量对第二位置至第一位置的移动距离和方向进行校正后，移动待测产品(29)至第一位置，实现待测产品(29)与测试夹具的自动对准。

2. 根据权利要求1所述的电子产品测试夹具的自动对准方法，其特征在于：步骤(2)中，所述光学传感系统由X方向和Y方向的两组互相垂直设置的传感系统构成，分别从与探针(9)的轴线垂直的平面的X方向和Y方向检测探针(9)和校准板的凸起(11)的相对位置。

3. 根据权利要求2所述的电子产品测试夹具的自动对准方法，其特征在于：每一传感系统包括一激光器(27)和至少一个校准相机(12)，激光器(27)发出的光经过校准板上的凸起(11)和测试夹具上的探针(9)，成像在校准相机(12)上。