1.一种访问寄存器的方法，其特征在于，所述方法包括：基于接口确定用于访问寄存器的基本向量，所述接口是芯片与自动测试机之间的连接接口；

根据待访问的寄存器的地址刷新所述基本向量，得到刷新的基本向量；

通过调用所述刷新的基本向量访问所述待访问的寄存器；

其中，所述根据待访问的寄存器的地址刷新所述基本向量包括：如果访问所述待访问的寄存器操作为读操作，则以所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值；

如果访问所述待访问的寄存器操作为写操作，则以所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值，并以待写入的值替换所述基本向量中的数据信号初始值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于接口确定用于访问寄存器的基本向量时，所述基本向量至少包括片选信号、读使能信号、写使能信号、地址信号、数据信号以及接口信号保持高低电平的周期数信息；

其中，所述接口信号包括所述片选信号、读使能信号、写使能信号、地址信号和数据信号，所述地址信号和数据信号为初始值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值包括：将所述待访问的寄存器的地址传递给预先编写的底层驱动，由所述预先编写的底层驱动以所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值；

所述以所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值，并以待写入的值替换所述基本向量中的数据信号初始值包括：将所述待访问的寄存器的地址和所述待写入的值传递给所述预先编写的底层驱动，由所述预先编写的底层驱动以所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值，并以所述待写入的值替换所述基本向量中的数据信号初始值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述待访问的寄存器的地址传递给预先编写的底层驱动包括：通过预先编写的顶层代码将所述待访问的寄存器的地址传递给所述预先编写的底层驱动；

所述将所述待访问的寄存器的地址和所述待写入的值传递给所述预先编写的底层驱动，包括：通过所述预先编写的顶层代码将所述待访问的寄存器的地址和所述待写入的值传递给所述预先编写的底层驱动。

5.一种访问寄存器的装置，其特征在于，所述装置包括：确定单元，用于基于接口确定用于访问寄存器的基本向量，所述接口是芯片与自动测试机之间的连接接口；

刷新单元，用于根据待访问的寄存器的地址刷新所述确定单元确定的基本向量，得到刷新的基本向量；

访问单元，用于通过调用所述刷新单元得到的刷新的基本向量访问所述待访问的寄存器；

其中，所述刷新单元包括：

第一刷新模块，用于如果访问所述待访问的寄存器操作为读操作，则以所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值；

第二刷新模块，用于如果访问所述待访问的寄存器操作为写操作，则以所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值，并以待写入的值替换所述基本向量中的数据信号初始值。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述确定单元确定的基本向量至少包括片选信号、读使能信号、写使能信号、地址信号、数据信号以及接口信号保持高低电平的周期数信息；

其中，所述接口信号包括所述片选信号、读使能信号、写使能信号、地址信号和数据信号，所述地址信号和数据信号为初始值。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一刷新模块包括：第一传递子模块，用于将所述待访问的寄存器的地址传递给预先编写的底层驱动；

第一刷新子模块，用于由所述预先编写的底层驱动以所述第一传递子模块传递的所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值；

所述第二刷新模块包括：

第二传递子模块，用于将所述待访问的寄存器的地址和所述待写入的值传递给所述预先编写的底层驱动；

第二刷新子模块，用于由所述预先编写的底层驱动以所述第二传递子模块传递的所述待访问的寄存器的地址替换所述基本向量中的地址信号初始值，并以所述待写入的值替换所述基本向量中的数据信号初始值。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一传递子模块，用于通过预先编写的顶层代码将所述待访问的寄存器的地址传递给所述预先编写的底层驱动；

所述第二传递子模块，用于通过所述预先编写的顶层代码将所述待访问的寄存器的地址和所述待写入的值传递给所述预先编写的底层驱动。

9.一种自动测试机，其特征在于，包括访问寄存器的装置以及测试装置；

所述访问寄存器的装置如权利要求5-8任一项所述的访问寄存器的装置；

所述测试装置，用于在所述访问寄存器的装置完成对待访问的寄存器的访问之后，对所述待访问的寄存器所在的芯片进行测试。