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专利号: 2011102212326
申请人: 中兴通讯股份有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-06-27
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种升阶周期的调整方法,其特征在于,所述升阶为多输入多输出模式的升阶、调制编码方式的升阶,或对多输入多输出模式和调制编码方式进行联合调整的升阶,包括:在预设条件下进行升阶;

判断本次升阶是否失败;

如果是,则延长下一次升阶的升阶周期。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在预设条件下进行升阶的步骤包括:判断是否达到了升阶周期;

如果是,则计算所述升阶周期内的误包率;

判断所述误包率是否小于或等于预设的阈值;

如果是,则进行升阶。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,还包括统计升阶失败次数,如果本次升阶失败,则升阶失败次数加1,如果本次升阶成功,则升阶失败次数不变。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,延长下一次升阶的升阶周期的步骤包括:判断当前升阶失败次数是否小于或等于预设的最大升阶失败次数;

如果是,则得到下一次升阶的升阶周期为Tup×(upfailTimes+1);

如果否,则得到下一次升阶的升阶周期为Tup×(MaxfailTimes+1);

其中,Tup为预设的基本升阶周期,upfailTimes为当前升阶失败次数,MaxfailTimes为最大升阶失败次数。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,判断本次升阶是否失败的步骤包括:判断本次升阶到下次降阶之间的时间间隔是否在预设的基本降阶周期以内;

如果是,则判断结果为本次升阶失败;

如果否,则判断结果为本次升阶成功。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,在判断本次升阶到下次降阶之间的时间间隔是否在预设的基本降阶周期以内的步骤之前,还包括:根据预设规则判断是否需要以初始态重新统计升阶失败次数;

如果需要,则以初始态重新统计升阶失败次数;

如果不需要,则转入判断本次升阶到下次降阶之间的时间间隔是否在预设的基本降阶周期以内的步骤。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,根据预设规则判断是否需要以初始态重新统计升阶失败次数的步骤包括:判断本次升阶到下次降阶之间的时间间隔是否大于Tup×(MaxfailTimes+1);

如果是,则判断结果为需要以初始态重新统计升阶失败次数。

8.如权利要求6所述的方法,其特征在于,根据预设规则判断是否需要以初始态重新统计升阶失败次数的步骤包括:统计降阶次数和升阶次数;

判断当前降阶次数是否小于当前升阶次数;

如果否,则判断结果为需要以初始态重新统计升阶失败次数。

9.一种升阶周期的调整系统,其特征在于,所述升阶为多输入多输出模式的升阶、调制编码方式的升阶,或对多输入多输出模式和调制编码方式进行联合调整的升阶,包括升阶模块、失败判断模块和周期调整模块,其中,所述升阶模块用于在预设条件下进行升阶;

所述失败判断模块用于判断本次升阶是否失败;

所述周期调整模块用于在所述失败判断模块的判断结果为本次升阶失败时,延长下一次升阶的升阶周期。

10.如权利要求9所述的系统,其特征在于,所述升阶模块具体用于判断是否达到了升阶周期,如果是,则用于计算所述升阶周期内的误包率;并用于判断所述误包率是否小于或等于预设的阈值;如果是,则用于进行升阶。

11.如权利要求9或10所述的系统,其特征在于,还包括统计模块,所述统计模块用于统计升阶失败次数,如果本次升阶失败,则升阶失败次数加1,如果本次升阶成功,则升阶失败次数不变;所述周期调整模块具体用于判断当前升阶失败次数是否小于或等于预设的最大升阶失败次数;如果是,则用于得到下一次升阶的升阶周期为Tup×(upfailTimes+1);

如果否,则用于得到下一次升阶的升阶周期为Tup×(MaxfailTimes+1);其中,Tup为预设的基本升阶周期,upfailTimes为当前升阶失败次数,MaxfailTimes为最大升阶失败次数。

12.如权利要求11所述的系统,其特征在于,所述失败判断模块具体用于判断本次升阶到下次降阶之间的时间间隔是否在预设的基本降阶周期以内;如果是,则用于输出本次升阶失败的判断结果;如果否,则用于输出本次升阶成功的判断结果。

13.如权利要求12所述的系统,其特征在于,还包括初始化模块,所述初始化模块用于在所述失败判断模块判断本次升阶到下次降阶之间的时间间隔是否在预设的基本降阶周期以内之前,根据预设规则判断是否需要以初始态重新统计升阶失败次数;如果需要,则所述统计模块以初始态重新统计升阶失败次数;如果不需要,则所述失败判断模块转入判断本次升阶到下次降阶之间的时间间隔是否在预设的基本降阶周期以内的步骤。