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专利号: 2010106137048
申请人: 中国科学院深圳先进技术研究院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2024-12-09
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种磁共振弥散张量成像方法,包括以下步骤:

根据稀疏度对成像对象进行K空间稀疏采样,得到弥散加权参考图像的K空间数据;

提高所述稀疏度,对所述成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权图像的K空间数据;

通过钥孔成像将所述弥散加权参考图像与所述弥散加权图像的K空间数据进行共享填充;

对共享填充后的K空间数据进行图像重建。

2.根据权利要求1所述的磁共振弥散张量成像方法,其特征在于,所述根据稀疏度对成像对象进行K空间稀疏采样的步骤为:以径向扫描的方式对所述成像对象进行K空间稀疏采样。

3.根据权利要求1所述的磁共振弥散张量成像方法,其特征在于,所述提高所述稀疏度,对所述成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权图像的K空间数据的步骤为:提高所述稀疏度;

以径向扫描的方式对所述成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权图像的K空间数据。

4.根据权利要求1所述的磁共振弥散张量成像方法,其特征在于,所述弥散加权参考图像和/或弥散加权图像的重建是通过压缩感知重构得到的。

5.根据权利要求1所述的磁共振弥散张量成像方法,其特征在于,所述通过钥孔成像将所述弥散加权参考图像与所述弥散加权图像的K空间数据进行共享填充的步骤为:通过帧间独立或帧间关联的模式将所述弥散加权参考图像与弥散加权图像的K空间数据共享填充。

6.一种磁共振弥散张量成像系统,其特征在于,包括:采样模块,用于根据稀疏度对成像对象进行K空间稀疏采样,得到弥散加权参考图像的K空间数据,并提高所述稀疏度,对所述成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权图像的K空间数据;

填充模块,用于通过钥孔成像将所述弥散加权参考图像与所述弥散加权图像的K空间数据进行共享填充;

重建模块,用于对所述共享填充后的K空间数据进行图像重建。

7.根据权利要求6所述的磁共振弥散张量成像系统,其特征在于,所述采样模块以径向扫描的方式对所述成像对象进行K空间稀疏采样。

8.根据权利要求6所述的磁共振弥散张量成像系统,其特征在于,所述采样模块提高所述稀疏度,并以径向扫描的方式对所述成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权图像的K空间数据。

9.根据权利要求6所述的磁共振弥散张量成像系统,其特征在于,所述重建模块中重建得到的弥散加权参考图像和/或弥散加权图像是通过压缩感知重构得到的。

10.根据权利要求6所述的磁共振弥散张量成像系统,其特征在于,所述填充模块通过帧间独立或帧间关联的模式将所述弥散加权参考图像与弥散加权图像的K空间数据共享填充。