1.一种判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方 法，其特征在于：采用X射线光电子能谱仪进行分析，激发源为单色 的Al的X射线，分析直径为φ800μm，不用电子中和枪对元素结合 能进行荷电效应校正，得到钴和锂钴氧化物表面的金属元素特征峰的 半峰高宽FWHM，根据得到半峰高宽FWHM判断金属氧化物在锂钴 氧化物表面分散与聚集状态。

2.根据权利要求1所述的判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分 散与聚集状态的方法，其特征在于：所述的半峰高宽FWHM可以是 Al2P、Co2P3/2、Sn2d5/2、Mg2P至少一种金属的峰的半峰高宽FWHM。

3.根据权利要求2所述的判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分 散与聚集状态的方法，其特征在于：所述的Al2P峰的半峰高宽FWHM 在1.6eV～2.1eV范围内分散程度好。

4.根据权利要求2所述的判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分 散与聚集状态的方法，其特征在于：所述的Co2P3/2峰的半峰高宽 FWHM在2.3eV～2.71eV范围内分散程度好。

5.根据权利要求1所述的判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分 散与聚集状态的方法，其特征在于：所述的锂钴氧化物表面的金属元 素特征峰通过拟合可求出聚集的金属氧化物在总的金属氧化物中所占 的重量百分数。